原位薄膜厚度測量儀

簡(jian)要描述(shu)：原位(wei)薄膜厚(hou)度(du)測量(liang)儀(yi)-MPROBE 50 INSITU-昊量(liang)用于測量(liang)薄膜厚(hou)度(du)和 n&k（光學常數）的(de)實時光學測量(liang)儀(yi)。該系統可以(yi)在(zai)高環境(jing)光下工作，因為它使用門控數據采集(ji)。

產品型號：MPROBE 50 INSITU
廠商性質(zhi)：代理商
更新時間：2022-04-13
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品牌	其他品牌	價格區間	面議
產地類別	進口	應用領域	生物產業,電子,綜合
原位薄膜厚度測量儀	MPROBE 50 INSITU

原位薄膜厚度測量儀

<strong>原位薄膜厚度測量儀</strong>-MPROBE 50 INSITU

原位薄膜厚度測量儀用于測量薄膜厚度和 n&k（光學常數）的實時光學測量儀。該系統可以在高環境光下工作，因為它使用門控數據采集，使用高強度閃光氙燈在寬帶 ( UV-NIR) 波長范圍內進行精確測量。MProbe 50 系統是*可定制的，以支持不同的真(zhen)空室(shi)幾何形狀。根據可用的光學端口，可以使用斜入射或垂直入射。光可以聚焦在樣品表面或準直。反射探頭可以放置在沉積室光學端口的外部或內部（使用光纖饋通）。MProbe 50 系統沒有活動部件。典型測量時間~10ms。可以快速可靠地測量任何半透明薄膜。

優勢：

1.原位薄膜(mo)厚度和(he) n&k 測量(liang)

2.用于高環(huan)境光環(huan)境下測量(liang)的門控數據采集

3.材料(liao)：500+ 擴展材料數據庫

4.連續(xu)、快速和(he)可靠的測量

5.靈活(huo)的配置——*定(ding)制以匹配沉積室的幾何形狀

選型列表：

MProbe50	波長范圍	厚度(du)范(fan)圍
VIS	400nm -1100nm	15nm – 20 μm
HRVIS	700nm-1000nm	1μm-400μm
NIR	900nm-1700nm	100nm – 200μm
UVVisF	200nm -900nm	1nm – 20μm
UVVISNIR	200nm-1700nm	1nm -200μm
XT	1590nm -1650nm	10μm-1mm

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