微小區域薄膜厚度測量儀

簡要描述：微(wei)(wei)小(xiao)區(qu)域薄(bo)膜厚度測(ce)量(liang)儀-MPROBE 40 MSP，MProbe 40 測(ce)量(liang)薄(bo)膜厚度和折射(she)率(lv)單(dan)擊(ji)鼠標(biao)在小(xiao)地(di)方。顯微(wei)(wei)分光光度計 (MSP) 集成在系統中(zhong)同時結合顯微(wei)(wei)鏡，用(yong)于小(xiao)點薄(bo)膜厚度測(ce)量(liang)。

產品(pin)型號(hao)：MPROBE 40 MSP
廠(chang)商性質：代理商
更新時間(jian)：2022-04-13
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品牌	其他品牌	價格區間	面議
產地類別	進口	應用領域	生物產業,電子,綜合
微小區域薄膜厚度測量儀	MPROBE 40 MSP

微小區域薄膜厚度測量儀-MPROBE 40 MSP

MProbe 40 測量薄膜厚度和折射率單擊鼠標在小地方。顯微分光光度計 (MSP) 集成在系統中同時結合顯微鏡，用于小點薄膜厚度測量，用于數千種應用程序，并提供完整的標準模型系列來支持它們。微小區域薄膜厚度測量儀-MPROBE 40 MSP可以快速可靠地測量 1 納米到 2 毫米的厚度，包括多層薄膜堆疊。不同的模型主要由光譜儀的波長范圍和分辨率來區分，這反過來又決定了可以測量的厚度范圍。

<strong><strong>微小區域薄膜厚度測量儀</strong>-MPROBE 40 MSP</strong>

應用：

1. 測量圓柱或曲(qu)面(mian)(mian)上薄膜厚(hou)度：注(zhu)射(she)器、支架、銷釘、電線等。即使在高度彎曲(qu)的表面(mian)(mian)上，小點(dian)也會產生平(ping)坦的場(chang)以實現精確測量。

2. 不均(jun)勻、粗糙的涂層或(huo)光(guang)散射材料(liao)，如高霧(wu)度或(huo)納米粒子注入薄膜(mo)。小光(guang)斑(ban)定位測(ce)量有效地(di)減(jian)少光(guang)散射和不均(jun)勻性的影響

3.圖案(an)晶圓、MEMS 和其他需要(yao)高靈敏度(du)領(ling)域的(de)(de)小(xiao)區域測(ce)量的(de)(de)應(ying)用。

基本規格：

精(jing)度	0.01nm或(huo)0.01%
準確度	0.2%或1nm
穩定(ding)性	0.02nm或0.03%
聚焦點尺寸(cun)	0.2mm或0.4mm
樣品(pin)尺(chi)寸	>20mm
厚度范圍	0.05-70um
波長范圍(wei)	400-1000nm

選型列表：

MProbe 40	波長范圍(wei)	厚度(du)范圍
VIS	400nm -1100nm	10nm – 75 μm
UVVISSR	200nm -1100nm	1nm -75μm
VISHR	700nm-1100nm	1μm-400μm
NIR	900nm-1700nm	50nm – 85μm
UVVisF	200nm -1700nm	1nm – 85μm
UVVISNIR	200nm-800nm	1nm -5μm
NIRHR	1500nm -1550nm	10μm-1800μm (glass)4μm-400μm (Si)

*可根據要(yao)求設計定制探(tan)頭(tou)

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