| 品牌 | 其他品牌 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 生物產業,電子,綜合 |
| 薄膜厚度均勻度測量系統 | MPROBE 60 |
薄膜厚度均勻度在線測量系統-MPROBE 60
MProbe 60 是(shi)一站(zhan)式(shi)系統，專為研(yan)(yan)發(fa)中(zhong)心(xin)和小型制造而(er)(er)設計(ji)。它結合了測(ce)量厚度(du)/n&k 與自動化(hua)小點測(ce)量的(de)能力。MProbe 60 已應用(yong)于(yu)研(yan)(yan)發(fa)納(na)米技術中(zhong)心(xin)。可以(yi)快(kuai)速可靠地測(ce)量 1 nm至 2 mm的(de)厚度(du)，包括(kuo)多層薄(bo)膜堆疊。不(bu)同(tong)的(de)MProbe 60 型號主要受光譜儀的(de)波長(chang)范(fan)圍和分辨率影響(xiang)，進而(er)(er)決(jue)定了可測(ce)量的(de)厚度(du)范(fan)圍。
薄膜厚度均勻度測量系統-MPROBE 60的優勢(shi)：
1.具有靈活和模(mo)塊(kuai)化的(de)映(ying)射(she)自(zi)動(dong)化的(de)一站(zhan)式系(xi)統
2.精度<0.01nm 或(huo) 0.01%
3.500+ 擴展材料數據庫(ku)
4.軟件：用戶友好(hao)且功(gong)能(neng)豐富(fu)的 TFCompanion 軟件甚至可以處(chu)理zui復雜的應用程序。層數(shu)沒有限制，支(zhi)持背(bei)面反射、表面粗糙度(du)、暗度(du)等等。集成的相(xiang)機(ji)和成像軟件允許精確定位測量位置并(bing)直接在圖(tu)像上顯示結(jie)果
薄膜厚度均勻度在線測量系統-MPROBE 60選型列表：
MProbe 60 | 波長范(fan)圍 | 厚度范圍 |
VISLX | 400nm -1000nm | 10nm – 75μm |
UVVisSR | 200nm-1000nm | 1nm-75μm |
UVVisF | 200nm-900nm | 1nm – 5μm |
VISHR | 700nm -1100nm | 1μm – 400μm |
NIR | 900nm-1700nm | 50nm -100μm |
VISNIR | 400nm -1700nm | 10nm-100μm |
UVVISNIR | 200nm-1700nm | 1nm-100μm |
NIRHR | 1530nm-1580nm | 25μm-2000μm |
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