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綜合電子測量分析儀(十二功能合一)

簡(jian)要描述:綜合電(dian)子測量分析儀(十二功(gong)能(neng)合一(yi))可讓您觀察DC到250 MHz之間(jian)頻(pin)域中的輸入信號(hao)。在100Hz的zui小跨度下,同時查看分辨率低至1 Hz的兩個(ge)數據通道。頻(pin)譜分析儀還(huan)具有兩個(ge)集(ji)成的波(bo)(bo)形發生(sheng)(sheng)器,能(neng)夠產(chan)生(sheng)(sheng)高達250 MHz的正(zheng)弦(xian)波(bo)(bo)。

  • 產品型號(hao):
  • 廠商性質(zhi):代理商
  • 更新時間:2021-08-14
  • 訪  問  量:1012
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詳細介(jie)紹
品牌其他品牌產地類別進口
應用領域環保,化工,能源

澳大(da)利亞(ya) Liquid Instruments公司Moku:Lab綜合電子測量分析儀,是一款功能強大的綜合電子測量分析終端。集成成(cheng)示波(bo)器(qi)(qi)、頻譜分析儀(yi)、波(bo)形發(fa)生器(qi)(qi)、相位表、數據記錄器(qi)(qi)、鎖(suo)相放大(da)器(qi)(qi)、PID控制器(qi)(qi)、頻率響應分析儀(yi)、數字濾(lv)波(bo)器(qi)(qi)、任意波(bo)形發(fa)生器(qi)(qi)、FIR濾(lv)波(bo)器(qi)(qi)?成(cheng)器(qi)(qi)和激光鎖(suo)頻/穩頻??個專業儀器(qi)于?臺(tai)設(she)備。適(shi)?于信號采集(ji)、處理分析、控制系統(tong)等應用。僅需通過軟件(jian)操(cao)控多儀器(qi)間功能切(qie)換,硬件(jian)便(bian)可(ke)以快速重新配(pei)置(zhi)并執?的(de)儀(yi)器(qi)功能(neng)(neng)。同時我們在(zai)不斷增強(qiang)(qiang)當前儀(yi)器(qi)功能(neng)(neng),客戶(hu)無需增加成(cheng)本(ben)即可獲得更多強(qiang)(qiang)大功能(neng)(neng)及豐富的(de)用戶(hu)體驗。基于可靈活配置(zhi)擴展硬件(jian)平臺與(yu)直觀測量和控制軟件(jian),將FPGA(現場可編(bian)程?陣(zhen)列,半定制電路)的(de)強(qiang)(qiang)大數字信號處理能(neng)(neng)力和?速模擬輸(shu)入(ru)和輸(shu)出端結合,為實驗?作(zuo)、科研(yan)、?產(chan)帶來全新(xin)的(de)靈活性(xing)和流暢(chang)性(xing)。


綜合電子測量分析儀(十二功能合一)可視化操作界面
iPad—Moku引以(yi)為豪的觸(chu)控(kong)操作界?,通過直(zhi)觀(guan)統?的iPad界?實現?線配(pei)置和操控(kong)您(nin)的儀器。節省學習儀器操作時間(jian),將精力投入(ru)到實驗的理解及結果分析(xi)。


綜合電子測量分析儀(十二功能合一)多種連接方案
Python, LabVIEW, MATLAB—PC端使(shi)?

免費下(xia)載(zai)升級Moku:Lab App


產品特(te)點
節(jie)省工作臺空間、優(you)化實驗環境

可遠(yuan)程控(kong)制,滿足(zu)嚴格(ge)實驗環(huan)境(jing)要(yao)求

小巧輕便、隨(sui)時隨(sui)地戶外?作

Moku:lab概要

兩(liang)個模擬輸(shu)?通道

• 采樣(yang)率:500 MS/s

• ADC分辨率:12位

• 帶寬(-3 dB, 50 Ω):200 MHz 

• 阻抗:50Ω/1MΩ 

• 耦合:AC / DC

• 1 Vpp / 10 Vpp


兩個模擬(ni)輸出通(tong)道

• 采樣率:1 GS/s

• DAC分辨率:16位

• 帶寬(-3dB)>300 MHz 

• 阻抗:50 Ω

• DC耦合


時(shi)鐘(zhong)&觸發

• 超(chao)穩(wen)定(ding)振(zhen)蕩器 (精度優于<500 ppb)

• 參(can)考(kao)輸?:10 MHz 

• 參考輸(shu)出(chu):10 MHz 

• 外部觸發(fa)輸? (TTL)


連接&存(cun)儲

• Wi-Fi、以太?和 USB
• Python, MATLAB, LabVIEW 和(he)iPad

• 存儲數據到 Dropbox

• 內置8 GB SD 卡


Moku:Lab集成成(cheng)示(shi)波(bo)(bo)器(qi)、頻譜分析儀(yi)、波(bo)(bo)形發生器(qi)、相(xiang)位(wei)表(biao)、數據記錄器(qi)、鎖相(xiang)放大(da)器(qi)、PID控制器(qi)、頻率(lv)響(xiang)應分析儀(yi)、數字濾波(bo)(bo)器(qi)、任意(yi)波(bo)(bo)形發生器(qi)、FIR濾波(bo)(bo)器(qi)?成(cheng)器(qi)和激(ji)光鎖頻/穩頻,??個(ge)專(zhuan)業儀器(qi)于(yu)?臺(tai)設(she)備。

1. 鎖相放大器
Moku:Lab的鎖定放大器可用于檢測(ce)被噪聲掩(yan)蓋的小型(xing)振(zhen)蕩信號。簡潔(jie)的用戶界面允許(xu)用戶使用整(zheng)個框圖中的探測(ce)點精確(que)配置系統(tong)并監視其性能。


簡(jian)要指標

• 輸入電壓范圍±5V

• 輸入噪聲在100kHz以上時為30 nV/√Hz

• 移相精度0.001o

• 動態存儲大于80dB

• 頻率分辨率3.55 µHz

• 頻率范圍1 mHz至200MHz


2. 任意波形(xing)發生器

Moku:Lab的(de)任意(yi)波形(xing)發(fa)生(sheng)器(qi)可(ke)以(yi)生(sheng)成自定義波形(xing),其采樣(yang)率zui高為(wei)1GS/s,zui高可(ke)達65,000點。波形(xing)可(ke)以(yi)從(cong)文件中加載,也可(ke)以(yi)作為(wei)zui多32個(ge)分段函數輸入。在脈沖模式下,輸出波形(xing)時(shi)脈沖之間的(de)停滯時(shi)間超過250,000個(ge)周(zhou)期。


簡要指標(biao)

• 雙通道

• 帶寬(-3 dB)> 300 MHz至50Ω

• 每通道采樣率1 GS / s

• 幅度分辨率100 µV

• DC范圍1 mVpp至2 Vpp至50Ω

• zui小邊沿時間2ns

• 相位分辨率0.001o

• 波形正弦,高斯,指數下降,正弦,方程,自定義(來自文件)


3. PID控(kong)制器(qi)

Moku:Lab的PID控(kong)(kong)制(zhi)器使用(yong)(yong)戶能夠設計和(he)部署用(yong)(yong)于溫度穩(wen)定和(he)激光(guang)頻率控(kong)(kong)制(zhi)等廣泛(fan)應用(yong)(yong)的控(kong)(kong)制(zhi)系(xi)統。


簡(jian)要指(zhi)標

• 雙通道

• 輸入/輸出失調范圍±1V

• 輸入耦合AC/DC

• 失調精度100µV

• 輸入電壓范圍±0.5V到50Ω,衰減0 dB

• zui大帶(dai)寬100 kHz,相位延(yan)遲(chi)30°



4. 頻(pin)率(lv)響應分析儀

Moku:Lab的頻率響(xiang)應分(fen)析儀可用于從(cong)10 mHz到120MHz的正弦掃頻輸出來測量功能(neng)。表(biao)征系統(tong)的頻率響(xiang)應。系統(tong)的頻率響(xiang)應由幅頻特性(xing)和相頻特性(xing)組(zu)成。


簡要指標

• 正弦波掃描

• 線性或對數正弦掃頻輸出

• 頻率范圍10 mHz至120 MHz

• 頻率分辨率3.55 µHz

• 輸出幅值范圍±0.5 mV至±1 V到50Ω

• 輸入電壓范圍±0.5 V到50Ω,衰減0 dB


5. 激光穩頻(pin)/鎖(suo)頻(pin)

激光(guang)(guang)鎖(suo)定(ding)系統被(bei)廣(guang)泛用于(yu)(yu)控制激光(guang)(guang)頻率并將(jiang)其與光(guang)(guang)學(xue)參考(kao)頻率(例如(ru)光(guang)(guang)學(xue)參考(kao)腔或(huo)原子(zi)躍遷(qian))匹配。這(zhe)樣(yang)的(de)系統對于(yu)(yu)高分辨率干(gan)涉測量(liang),光(guang)(guang)譜學(xue)以及時間(jian)和(he)頻率標準至關重(zhong)要。Moku:Lab可讓您(nin)使用高性(xing)能的(de)調(diao)制鎖(suo)定(ding)技術將(jiang)激光(guang)(guang)器的(de)頻率穩(wen)定(ding)到參考(kao)腔或(huo)原子(zi)躍遷(qian)。該(gai)功能,使您(nin)能夠快(kuai)速鎖(suo)定(ding)解調(diao)錯誤信(xin)號(hao)上的(de)任(ren)何零(ling)交叉。


簡要指標

• 生成高達200 MHz的調制信號

• 頻率范圍DC至200 MHz

• 相位偏移分辨率0.001o

• PLL頻率范圍2 MHz至200 MHz


6. 相位計

Moku:Lab的相(xiang)位計可測量zui多(duo)兩個輸入信號的相(xiang)位,在1kHz至200MHz范圍(wei)內的精度(du)超過6微弧(hu)度(du)。 Moku:Lab的相(xiang)位計基于數(shu)字實現的鎖相(xiang)環架構,可提供出色(se)的動態范圍(wei),零死區時(shi)間和測量精度(du),超過了傳統(tong)鎖相(xiang)放大器和頻(pin)率計數(shu)器的性能。


簡要指(zhi)標

• 同時測量輸入信號的相位,頻率和幅度

• 以高達125 kSa/s的速度采集數據

• 輸入頻率范圍1 kHz至200 MHz

• 輸入電壓范圍±0.5V至50Ω     


7. 數字濾(lv)波器(qi)

借助Moku:Lab的(de)數字濾波器,可(ke)以交(jiao)互式設計并生成不(bu)同(tong)類(lei)型(xing)的(de)無限沖激響(xiang)應濾波器,其(qi)輸出(chu)采樣率為122 kHz和15.625MHz。在低通(tong)(tong)、高(gao)通(tong)(tong)、帶(dai)通(tong)(tong)和帶(dai)阻濾波器形狀之間進行選(xuan)(xuan)擇,zui多可(ke)以選(xuan)(xuan)擇7種*可(ke)配置的(de)類(lei)型(xing),包(bao)括(kuo)Butterworth,Chebyshev和Elliptical。


簡要指(zhi)標

• 使用交互式波特圖設計IIR濾波器

• 使用探測點觀察數字信號處理鏈中不同階段的信號

• 查看濾波器的幅度和相位頻率響應

• 輸入電壓范圍±0.5 V到50Ω,衰減0 dB

• 輸入控制矩陣系數-20至+20

• 輸入阻抗50Ω/1MΩ

• 輸入耦合AC/DC

• 輸入衰減0 dB/20 dB

• 輸入(ru)電壓范圍±0.5V到50Ω,衰減(jian)0dB   


8. 波形發生器

Moku:Lab的(de)波(bo)(bo)(bo)形(xing)發(fa)生(sheng)器(qi)使用戶能夠(gou)生(sheng)成(cheng)兩(liang)個獨立的(de)波(bo)(bo)(bo)形(xing),采樣(yang)率為(wei)(wei)1 GSa/s,zui大(da)頻率為(wei)(wei)250MHz,輸出電壓范圍(wei)為(wei)(wei)±1V至50Ω。在正弦(xian)波(bo)(bo)(bo)、方波(bo)(bo)(bo)、鋸齒波(bo)(bo)(bo)、脈沖或(huo)直流波(bo)(bo)(bo)形(xing)形(xing)狀之間進行選擇。調制相位,頻率或(huo)幅度,或(huo)從內部或(huo)外(wai)部源生(sheng)成(cheng)觸發(fa)的(de)脈沖串或(huo)掃描。


簡要指標(biao)

• 生成從1 mHz到250 MHz的正弦波

• 生成從1 mHz到100 MHz的方波和斜波

• 在高達100 MHz的頻率下產生zui小脈沖寬度為10 ns的脈沖波形

• 使用內部和外部信號源在高達62.5 MHz的頻率下調制幅度,頻率和相位的波形

• 每通道采樣率1 GSa/s

• 帶寬(-3 dB)300 MHz至50Ω

• 波形正弦波、方波、鋸齒波、脈沖、直流

• 范圍從1 mVpp到2 Vpp到50Ω

• 分辨率100 µV

• 通道隔離度> 40 dB(從DC到200 MHz)


9. 數據記錄器

Moku:Lab的(de)(de)(de)數據記錄器可以將(jiang)數據直(zhi)接(jie)記錄到SD卡(ka)中,以進(jin)行高達(da)100 kSa/s的(de)(de)(de)速率的(de)(de)(de)長期測量,而持續(xu)時間僅(jin)受SD卡(ka)容(rong)量的(de)(de)(de)限制。通過直(zhi)接(jie)保存(cun)到Moku:Lab的(de)(de)(de)內部(bu)存(cun)儲(chu)器中,數據也可以高達(da)1MSa/s的(de)(de)(de)速度獲(huo)取(qu)。測量完成后,可以將(jiang)保存(cun)到Moku:Lab內部(bu)存(cun)儲(chu)器的(de)(de)(de)數據上傳(chuan)到云中進(jin)行分析。


簡要指標

• 以zui高100 kSa/s的速度記錄兩個數據通道到SD卡,以1 MSa/s的速度記錄到內部存儲

• 輕松將記錄的數據上傳到云中進行分析

• 輸入電壓范圍±0.5 V到50Ω(0 dB衰減)±5 V輸入50Ω,衰減20 dB


10. FIR濾波器生(sheng)成器

借(jie)助Moku:Lab的FIR濾(lv)波(bo)器(qi)(qi)生成器(qi)(qi),可以設計(ji)和實現低(di)通、高(gao)通、帶通和帶阻有限沖激響應(FIR)濾(lv)波(bo)器(qi)(qi),這(zhe)些濾(lv)波(bo)器(qi)(qi)具(ju)有高(gao)達14819的系(xi)數(shu),采樣率(lv)為244.1 kHz。Moku:Lab的iPad接口可讓您在(zai)頻域(yu)和時域(yu)中微調濾(lv)波(bo)器(qi)(qi)的響應,以適合您的特定應用。在(zai)四個(ge)頻率(lv)響應形狀(zhuang),五個(ge)常見的脈(mo)沖響應以及多達八個(ge)窗(chuang)口函數(shu)之間選擇。


簡要指標

• 使用常見的脈沖響應和窗口函數在時域或頻域中設計濾波器

• 上傳自己的濾波器系數,或使用方程式編輯器以數學方式定義自己的自定義脈沖響應

• 查看濾波器的傳遞函數,脈沖和階躍響應或組和相位延遲

• 只需按一下按鈕,即可將測量數據保存到SD卡或云端

• 采樣率122.1kHz,244.1kHz,488.3kHz,976.6 kHz,1.953MHz,3.906MHz,7.813MHz,15.63MHz

• 頻率響應低通,高通,帶通,帶阻

• 脈沖響應矩形,正弦,三角,高斯,方程,自定義

• 濾波器窗:巴特利特,漢寧,漢明,布萊克曼,納塔爾,圖基,凱撒


11. 示波器

Moku:Lab的(de)(de)(de)示(shi)波(bo)(bo)(bo)器(qi)具有(you)(you)兩(liang)個(ge)500 MS/s模擬(ni)輸(shu)入(ru)通道,具有(you)(you)200 MHz模擬(ni)帶(dai)寬,10 Vpp輸(shu)入(ru)電壓范圍(wei)以及(ji)用戶可配置的(de)(de)(de)AC/DC耦合和(he)50Ω/1MΩ阻(zu)抗。示(shi)波(bo)(bo)(bo)器(qi)還具有(you)(you)兩(liang)個(ge)集成的(de)(de)(de)波(bo)(bo)(bo)形發生器(qi),能夠(gou)產生高達250 MHz的(de)(de)(de)正(zheng)弦波(bo)(bo)(bo)以及(ji)高達100MHz的(de)(de)(de)方波(bo)(bo)(bo),鋸齒(chi)波(bo)(bo)(bo)和(he)三(san)角(jiao)波(bo)(bo)(bo),從而(er)能夠(gou)激(ji)發系統并同時測量其響應。


簡要指標

• 分析兩個電壓通道,垂直范圍為±5伏,模擬帶寬為200 MHz,zui大采樣率為500 MSa / s

• 在精確模式下測量數據以通過抑制噪聲來提高測量分辨率

• 合成正弦波、方波、鋸齒波、脈沖和直流波形

• 輸入帶寬(-3 dB)> 200 MHz至50Ω

• zui大采樣率500 MSa/s


12. 頻譜分析儀

Moku:Lab的(de)頻譜分析儀可讓您(nin)觀察DC到250 MHz之間頻域(yu)中的(de)輸入(ru)信號。在100Hz的(de)zui小跨度下,同時查(cha)看分辨(bian)率低至1 Hz的(de)兩(liang)個(ge)數據通(tong)道。頻譜分析儀還具(ju)有兩(liang)個(ge)集成的(de)波形發生(sheng)器,能(neng)夠產生(sheng)高達250 MHz的(de)正弦波。


簡要指標(biao)

• 直流至250 MHz頻率范圍

• 1 kHz至250 MHz頻率范圍

• 窗函數: None (uniform), Hanning, Flat Top, Blackman-Harris

• 正弦波掃描

• 輸出頻率范圍1 mHz至250 MHz

• 掃描模式以固定的頻率掃描電流范圍內的輸出頻率,掃描周期為5秒


應用(yong)案例

• 太赫茲時域光譜、時域熱反射測量(TDTR)          

• 氣體諧波測量實驗

• 激光器穩頻/鎖頻實驗                            

• 原子物理實驗

• 飛秒脈沖受激拉曼損耗顯微成像                

• 微弱信號測量    

• 光聲粘彈性成像測量                             

• 光聲光譜測量

• 光電實驗信號的(de)分(fen)析和測(ce)量                       

• 電子工程類實驗

• 邁克爾遜干涉實驗                               

• RC、RL電路實驗

• 對有用信號與噪聲信號分離的數字濾波器實驗       

• 光速的測(ce)量

• 系統輸出信號的(de)相位差測量以(yi)及(ji)幅值、頻(pin)率(lv)的(de)同時測量

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