高靈敏度共焦拉曼成像系統！
高分辨率！出色的重復性！

*的振鏡掃描技術，平臺不動，更有利于偏振拉曼及原位測試
使用全息透射光柵，光透過率高！
可擴展為PL/EL/偏振拉曼/光電流成像系統/熒光壽命成像系統

低波束拉曼系統

空間(jian)光(guang)接口&光(guang)纖接口適于客戶現有激光(guang)器接入

200µm x 200µm 圖像快(kuai)速掃描 & 2D Mapping！

高性(xing)價比！

 XperRam S共聚焦拉曼成像系統

韓(han)國Nanobase公(gong)司專業生產高(gao)(gao)性價(jia)比共(gong)聚(ju)焦激光拉(la)曼成像(xiang)系統(tong)，為科學和工業領域提(ti)供高(gao)(gao)性價(jia)比解決方案。 韓(han)國NANOBASE公(gong)司 XperRam S共(gong)聚(ju)焦激光拉(la)曼光譜成像(xiang)系統(tong)功(gong)能強大，選項完備，操作(zuo)簡單(dan)，便于(yu)維護。XperRam200共(gong)聚(ju)焦拉(la)曼成像(xiang)光譜儀系統(tong)使用戶可以提(ti)供各種可擴展功(gong)能，并可為客戶提(ti)供量身定(ding)制的可定(ding)制化(hua)的服務(wu)。

超高靈敏度共聚焦拉曼成像系統主要功能：
顯微拉曼，拉曼成像
偏振拉曼

低波束拉曼

原位測試

可(ke)拓展為EL/PL/光電流成(cheng)像(xiang)/熒光壽命成(cheng)像(xiang)

超高靈敏度共聚焦拉曼成像系統性能優勢(shi)：

激光掃描：
- 優越的分辨率 & 重復性
resolution < 0.02 um & repeatability < 0.1 μm.
- 大面積拉曼成像范圍
scan area exceeding 200 x 200 μm （40X, NA=0.75物鏡）
- 接近衍(yan)射極限的(de)光斑，覆(fu)蓋(gai)掃(sao)描(miao)區域

-平(ping)臺不(bu)動，更有利于(yu)偏振拉曼及(ji)原位(wei)測量

*的透射式體相位全(quan)息(xi)光柵技術
-    同類產品中高的衍射效率，高光透過率
-    偏振相關性小

平均模式(shi)
- 高速平均模式
4秒內能獲得200 x 200 µm區域的某一拉曼光譜
- ccd 讀出噪聲影響，
CCD在激光掃描同時獲取拉曼光譜，能很大程度減少傳統2D拉曼mapping方法中無法避免的讀出噪聲的影響
- 快速定量分析
能有效的快速分析載玻片中薄膜樣品或納米微粒

模塊(kuai)化(hua)設計（可(ke)選項(xiang)）
- 光纖耦合激光器端口和空間光端口
- 針對多種波長的嵌入式濾波器
- 起偏器
- 低波數拉曼濾波器選項（低至10 cm-1)
- NIR近紅外選項 (700 ~ 1000 nm)

主要(yao)技(ji)術(shu)參(can)數

-532n m, up to 100mW DPSS laser

(其它的激光(guang)器 如(ru)405nm,633nm,785nm可(ke)選 )

顯微鏡

-大尺寸機(ji)械(xie)臺，右手控制

-反射式LED照明光源(yuan)

-5部分組成的旋轉換鏡(jing)轉盤

-USB 2.0 Full HD 相機

-x40 , NA=0.75

-60% 透過率(lv) 在 360 nm~1000 nm

光譜儀

-input f/5

-焦長200 mm

-1800 lpmm VPHG grating (for 532 nm excitation)

-Micrometer for center wavelength adjustment

-FWHM resolution ~ 0.12 nm

-DISPersion ~0.038 nm/pixel (16 µm/pixel)

探測器

-Andor CCD

應用案例

WS2拉曼mapping

WS2拉曼圖譜

可(ke)選配(pei)置
光纖接口(kou)(kou)&空間光接口(kou)(kou)
 

熒(ying)光壽(shou)命模(mo)塊

超快(kuai)單(dan)光子計(ji)數器 & 計(ji)數板卡

-檢測通道: 2

-時間分辨(bian)率 : 25 ps

-死時間:  77 ns (typ)

激發光

-405 nm空間光路脈沖激發(fa)光（穩態熒光）

-波長: 405 nm

-Internal rep rate: 31.25 kHz ~ 80 Mhz, CW

光電流(liu)模塊

電流源表

-Keithley 2400

-配套探針臺

 -側邊放置的探針(zhen)基座

 -旋(xuan)鈕式位移控制(zhi)

X/Y軸(zhou)(zhou)行(xing)程(cheng)(cheng)13mm，Z軸(zhou)(zhou)行(xing)程(cheng)(cheng)20mm，可彎曲(qu)行(xing)程(cheng)(cheng)10mm

X/Y軸精(jing)度1um，Z軸精(jing)度10um

10fA溢泄(xie)電流，1，5mTRX線纜并配接口

金合(he)金探針，M5BG,0.5x30mm,彎曲型

光偏(pian)振控(kong)制
 >> Excitation polarization control
0~180°continuous rotation of excitation laser polarization
Operating wavelength : 532+/-20nm
Utilize a zero order half wave plate>>Collection polarizer
Operating wavelength: 420~700 nm-
Extinction ratio > 200:1
Transmission > 83%

窄帶濾(lv)波器(qi) (OD7)
 >>Bandpass filter
Bandwidth (FWHM) < 0.3 nm
Diffraction efficiency > 90%
>>Notch filte
Blocking > 99.9999% (OD3 + OD3)
Transmission > 50%
Bandwidth (FWHM) < 0.5 nm

激(ji)光功率控制
Variable ND filter (OD 0.04~4)
Laser power monitor photodiode output (BNC connector)

 
主要(yao)應(ying)用：
生物(wu)
- Cell research / Disease detection / Stents and implants
- Cosmetics and in vivo skin analysis

法醫(yi)檢(jian)測
-The non-destructive and in-situ identification of controlled drugs and narcotics.

制(zhi)藥學, 化妝品和食品學
-Characterization and Mapping of active pharmaceutical ingredients and excipients

半導(dao)體(ti)，太陽能電池和OLED
-Strain measurements of a Si cap layer deposited on a SiGe substrate determination of Ge content - Defects identification during the manufacturing process
- Defects identification during the manufacturing process

固體狀態材料(liao)
- Analysis of Solid State Chemical Reactions and Composite
- Raman Maps Identify and Located Phases.