品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 進口 |
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應用領域 | 醫療衛生,生物產業,電子,交通 |
NT-MDT原子力顯微鏡
自1998年以來(lai),NT-MDT已成(cheng)(cheng)功地將AFM與光學顯(xian)微(wei)鏡和光譜技術相集成(cheng)(cheng)。支(zhi)持包括(kuo)HybriD ModeTM在內(nei)的30多種基本和高級AFM模式(shi),可提(ti)(ti)供(gong)有關(guan)樣品(pin)表面(mian)物理性質的廣泛(fan)信息(xi)。 AFM與共(gong)焦拉曼/熒(ying)光顯(xian)微(wei)鏡的集成(cheng)(cheng)提(ti)(ti)供(gong)了有關(guan)樣品(pin)的更(geng)多信息(xi)。
*相同的(de)(de)樣品區域同時測量的(de)(de)AFM和拉曼(man)圖(tu)可提供有關樣品物理性質(zhi)(AFM)和化學成分(fen)(Raman)的(de)(de)補充信息。
NTEGRA Spectra II借助增強(qiang)拉(la)曼散(san)射(she)(TERS),可以(yi)進(jin)行納(na)米(mi)級分辨率的光(guang)譜學(xue)/顯微術。特制(zhi)的AFM探針(zhen)(納(na)米(mi)天線)可用于TERS,以(yi)增強(qiang)和(he)定位頂(ding)端附近納(na)米(mi)級區域的光(guang)。
這種(zhong)納(na)米(mi)天線充當(dang)光(guang)的(de)“納(na)米(mi)源”,從而提供了光(guang)學(xue)成像的(de)可能性,其(qi)分(fen)辨率小于衍射(she)極限(max?10 nm)。掃描(miao)近場光(guang)學(xue)顯微鏡(SNOM)是獲(huo)得(de)旋(xuan)光(guang)性樣品的(de)光(guang)學(xue)和光(guang)譜圖(tu)像的(de)另一種(zhong)方法,其(qi)分(fen)辨率受探針孔徑大小(?100 nm)限制。
NT-MDT 原子力顯微鏡系統光路圖
所有可能的激(ji)發/檢測和(he)TERS的解(jie)決(jue)方案
應用
CdS納米(mi)(mi)線通過導電聚合物納米(mi)(mi)線與金屬電極連接。 AFM探針(zhen)(zhen)借助(zhu)觀察顯微鏡定位在結構上。 由于(yu)AFM探針(zhen)(zhen)的形狀,激光可以(yi)直(zhi)接定位在頂點(dian)上。
高分(fen)辨率AFM圖像可提(ti)供(gong)有關樣(yang)品形(xing)貌的信息。 從(cong)同一區域獲取的拉曼圖和發光圖顯示(shi)出納米線化學成分(fen)的差異。
光學圖片
原子力顯微鏡(jing)掃(sao)描圖 拉(la)曼掃(sao)描圖 熒光掃(sao)描圖
拉曼譜(pu)