通訊波段偏振消光比測量儀

簡要描述(shu)：該消(xiao)(xiao)光(guang)比(bi)測試儀PEM-330采(cai)用技(ji)術制造，可(ke)實(shi)現1260～1630nm全波(bo)(bo)段(duan)測量。只需(xu)更(geng)換(huan)測試光(guang)源，無需(xu)購買多臺消(xiao)(xiao)光(guang)比(bi)測試儀，即可(ke)實(shi)現不同波(bo)(bo)段(duan)器件的(de)(de)精確測量，一機多用大大降(jiang)低了儀器購置成本(ben)。該消(xiao)(xiao)光(guang)比(bi)測試儀具有*的(de)(de)消(xiao)(xiao)光(guang)比(bi)測試精度、偏(pian)振(zhen)角測試精度，能(neng)夠測量高達(da)50dB的(de)(de)消(xiao)(xiao)光(guang)比(bi)。通訊波(bo)(bo)段(duan)偏(pian)振(zhen)消(xiao)(xiao)光(guang)比(bi)測量儀

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更新時間：2021-06-02
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激光測量設備

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1260～1630nm偏振消光比測量儀

該消光比(bi)測試儀(yi)PEM-330采用技術(shu)制造，可實現1260～1630nm全波段測量。只需更換測試光源，無需購買多臺消光比測試儀，即可實現不同波段器件的精確測量，一機多用大大降低了儀器購置成本。該消光比測試儀具有*的消光(guang)比測試精(jing)度、偏振角測試精(jing)度，能夠測量高達50dB的(de)消光比(bi)。并且(qie)配備了(le)GPIB及RS-232C接口，適用于偏振(zhen)光軸調整的光學(xue)元器件裝(zhuang)配及保(bao)偏光纖熔(rong)接的質量控制及檢測等領域。