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F3A模擬磁場傳感器/模擬高斯計F3B
昊量光電全新推出的F3A模擬磁場傳感器/模擬高斯計F3B表示一系列磁場-電壓(ya)傳感器，帶有集成的三軸(zhou)霍爾探頭。
霍爾探(tan)頭包含一個 cmos 集成電路，其中集成了三組相互正交的霍爾元件、偏置電路、放大器和溫度傳感器。集成霍爾元件所占面積非常小（150 x 150 µm2），因此探頭的空間分辨率非常高。CMOS 集成電路技術使垂直和水平霍爾元件的制造精度非常高，從而使探頭的三個測量軸具有很高的角度精度（正交誤差小于 1°，測定精度優于 0.1°）。
集成磁探頭將高精度磁場測量所需的所有元件集成在單個芯片上，是一種超高性能磁性檢測設備。
磁探頭（模塊H）所連接的控制電路（模塊E）是根據各種磁探頭負責產生偏置電流、放大、線性度校正、偏移調整、頻帶限制等的控制電路。 從E模塊，每個軸輸出（差分）與檢測到的磁通密度成比例的電壓。 它還輸出與探頭溫度成比例的電壓。
F3A模(mo)擬(ni)磁場傳(chuan)感(gan)器 模(mo)擬(ni)高斯計F3B是一款僅有的集成的 3 軸磁傳感器，可以在單個點檢測三個方向的磁通密度，從而實現(xian)高精度的 3 軸測量。
由于典型的3軸特斯拉計(ji)/高斯計(ji)是通過在磁探頭布置三個磁傳感器來制造的，因此每個磁傳感器具有不同的位置來檢測磁性，因此無法檢測準確的磁矢量。
這(zhe)個(ge)問題(ti)的解決方(fang)案(an)是一個(ge)集(ji)成的3軸磁傳感器。
配備(bei)該傳感器的(de)(de)(de)特斯拉計(ji)/高斯計(ji)可以(yi)在所有條件(jian)下測量精(jing)確(que)的(de)(de)(de) 3D 矢量，例如永磁體的(de)(de)(de)接近磁場、小線圈(quan)產生(sheng)的(de)(de)(de)磁場以(yi)及(ji)以(yi)前無法實現的(de)(de)(de)時間變(bian)化。
F3A模(mo)(mo)擬(ni)磁場傳感(gan)器/ 模(mo)(mo)擬(ni)高斯計F3B產品特點：
集成的CMOS三軸霍爾探頭(tou)(Bx, By, Bz)，其(qi)中一個(ge)，兩個(ge)或三個(ge)通道使用
空間分辨率比：0.03 x 0.005 x 0.03 mm3;Bx & Bz: 0.15 x 0.01 x 0.15 mm3
角精度高:探頭(tou)三個測量軸之(zhi)間的正交誤(wu)差為＜±1°
采用改進的測量(liang)算法(fa)，測量(liang)精度優于0.1°
高頻帶寬:蕞大DC ~ 25khz (-3 dB)
極低的平面霍(huo)爾電壓
探頭(tou)內集成溫(wen)度(du)傳感(gan)器，進行溫(wen)度(du)補償
探頭上的感應回路可忽(hu)略不計
F3A模擬(ni)磁場傳感器/ 模擬(ni)高斯計(ji)F3B典型應用(yong)
永磁體的(de)表征和質量(liang)控制
磁體(ti)系統(tong)的(de)開發
繪制磁(ci)場地(di)圖
磁(ci)體(ti)系統（發(fa)電機(ji)(ji)、電機(ji)(ji)等）的質量控制和監控
應用于(yu)實驗(yan)室(shi)和生產(chan)線
F3A模擬(ni)(ni)磁(ci)場傳感器(qi)/ 模擬(ni)(ni)高斯計F3B探頭參數：
| Hall Probe Type: | 類型 | External Dimensions（外殼尺寸）: L x W x H (mm) | 特(te)點 | |
Type A 1)
| 堅固型 | 長度(du)：16.5 寬(kuan)度(du)：5.0 厚度：2.3 | 探頭表面到傳感器傳感器 的距離：1.0±0.1mm |
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Type C 2)
| 高溫測量型 | 長度：8.0 寬度：4.0 厚度：0.9 | 探頭表面到傳感器(qi)傳感器(qi) 的(de)距離：0.45±0.05mm 溫(wen)度 范圍：-40°C~+155°C |
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Type H 3)
| 長型1 | - HL長度(du)：71 - HM長度(du)：47 - HS長度：8 寬度：2.0 厚度：1.1 |
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Type K 4)
| 長型2 | - KL長(chang)度(du)：71 - KM長(chang)度(du)：47 - KS長度：8 寬度：2.0 厚度：0.5 |
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Type L 5)
| 長(chang)型3 | -LL長度(du)：71 -LM長度(du)：47 -LS長度：8 寬(kuan)度：0.64 厚度：0.28 |
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關(guan)于(yu)昊量(liang)光電：
上海(hai)昊量光(guang)(guang)電設備有限公司是國內光(guang)(guang)電產(chan)品(pin)專業代(dai)理商，代(dai)理品(pin)牌均處于相關領域的(de)發展(zhan)前(qian)沿(yan)；
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