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在線方塊電阻測試儀

簡(jian)要描述:EddyCus TF inline在線(xian)方塊電阻測(ce)(ce)試儀(yi)可以測(ce)(ce)量(liang)(liang)薄(bo)層的性能,如金(jin)屬層厚度,薄(bo)層電阻,輻射系(xi)數,殘余(yu)水分或(huo)在各種基(ji)材上的非接觸克重。相(xiang)關基(ji)材有玻璃、箔、紙、晶圓片、塑(su)料(liao)或(huo)陶瓷(ci)。通過(guo)(guo)常駐測(ce)(ce)量(liang)(liang)或(huo)觸發事件(jian)進(jin)行(xing)監測(ce)(ce),以在快速移動的涂層過(guo)(guo)程(cheng)中獲得等距離的結(jie)果。檢測(ce)(ce)解決方案(an)可以在大氣或(huo)真空條(tiao)件(jian)下實施(shi)。基(ji)于電渦流(liu)技術的檢測(ce)(ce)過(guo)(guo)程(cheng)高采樣(yang)率更高。可以使用客戶(hu)的軟(ruan)件(jian)為過(guo)(guo)程(cheng)控制系(xi)統提供測(ce)(ce)量(liang)(liang)結(jie)果。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2023-01-12
  • 訪  問  量:952
詳細(xi)介紹
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在線方塊電阻測試儀


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EddyCus TF inline在(zai)線 方(fang)塊電(dian)阻測(ce)(ce)(ce)(ce)試儀可(ke)以(yi)(yi)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)薄層的(de)(de)性能,如(ru)金屬(shu)層厚(hou)度(du),薄層電(dian)阻,輻射系數,殘余水分或在(zai)各種(zhong)基材(cai)上的(de)(de)非接觸(chu)克重。相(xiang)關基材(cai)有玻璃、箔、紙、晶圓(yuan)片、塑(su)料或陶瓷。通過(guo)常駐測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)或觸(chu)發事件進行監測(ce)(ce)(ce)(ce),以(yi)(yi)在(zai)快(kuai)速移動(dong)的(de)(de)涂層過(guo)程中獲得等距離的(de)(de)結果。檢測(ce)(ce)(ce)(ce)解決方(fang)案可(ke)以(yi)(yi)在(zai)大(da)氣或真(zhen)空條件下實施。基于電(dian)渦流技術的(de)(de)檢測(ce)(ce)(ce)(ce)過(guo)程高采樣率更高。可(ke)以(yi)(yi)使用(yong)客戶的(de)(de)軟(ruan)件為(wei)過(guo)程控(kong)制系統提供測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)結果。此外,SURAGUS還(huan)提供監控(kong)軟(ruan)件EddyCus EC Control,可(ke)視化、存儲(chu)和分析計量(liang)數據。


在線 方塊電阻測試儀產品優勢:

  • 非(fei)接觸式實時測量

  • 高測量速度高達1000次(ci)/秒。

  • 傳感器(qi)固定安裝或傳感器(qi)橫貫安裝

  • 每個系統集成1 - 99個監控通道

  • 在大氣(qi)或(huo)真(zhen)空的過程控(kong)制

  • 在(zai)許多應(ying)用中(zhong),非常接近襯底邊緣的測量是可能的

  • 在(zai)變化的(de)環境中通(tong)過溫(wen)度補償測量的(de)長(chang)期穩定(ding)性

  • 與測(ce)試材料(liao)之間(jian)的距(ju)離較大(例如60毫米/ 2.4英寸的間(jian)隙)

  • 覆蓋導電層或(huo)封(feng)裝襯底的表征

  • 眾多(duo)軟件集成分析



在線 方塊電阻測試儀測量內容及范圍:

薄層電阻(zu): 0.1 mOhm/sq up to 1 kOhm/sq

金屬厚(hou)度: 2 nm – 2 mm (根據材(cai)料電導率)

電阻率: 0.1 mOhm cm – 1 ohm cm

殘余水分(用非接(jie)觸式介電常數測(ce)量濕層)

電各異性: 0.33 to 3 (higher on request)

關聯屬性

克重: 0.1 to 1,000 g/sqm

輻(fu)射系數(shu): 0.005 to 0.2


EddyCus TF非接觸式方塊(kuai)電阻在(zai)(zai)線(xian)監(jian)測(ce)系統可在(zai)(zai)生(sheng)產過(guo)程(cheng)中直接對方塊(kuai)電阻進行高速、非接觸式測(ce)量(liang)。典型的(de)工藝(yi)包括PVD, CVD,在(zai)(zai)晶圓,箔,紙,聚(ju)合物或(huo)其(qi)他基板(ban)上的(de)電沉(chen)積(ji)或(huo)常規沉(chen)積(ji)工藝(yi)。特別是(shi)這些工藝(yi)包括濺射、蒸(zheng)發、外(wai)延(yan)或(huo)電鍍工藝(yi)。此外(wai),這也涉及噴涂,槽模涂層或(huo)電子印刷過(guo)程(cheng)。此外(wai),片狀(zhuang)電阻增強過(guo)程(cheng),如薄膜的(de)退(tui)火和摻雜或(huo)印刷電子產品的(de)燒結(jie),受益于電氣完整性(xing)的(de)在(zai)(zai)線(xian)監(jian)測(ce)。氧化、蝕刻、拋光以及清洗和干(gan)燥(zao)過(guo)程(cheng)的(de)影響也是(shi)這種測(ce)試技術廣泛應用范圍的(de)一部分(fen)。薄片電阻值通常轉移(yi)到MES系統,以保證質(zhi)量(liang),特別是(shi)過(guo)程(cheng)控制(zhi)。



在線方塊電阻測試儀規格指標:


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