非接觸式金屬膜厚測量儀

昊量光電新推出用于導電薄膜和薄金屬層膜厚測量的非接觸式金屬膜厚測量儀EddyCus TF Series，這款金屬膜厚測量儀可以非接觸式實時測量，對導電薄膜的膜厚精確測量，表征已被隱藏和封裝的導電層，并把測量數據保存和導出。

非(fei)接(jie)觸式 金屬膜厚測量儀主要測試對(dui)象(xiang)：

• 鍍膜建(jian)筑玻(bo)璃，如LowE

• 顯(xian)示(shi)器(qi)，觸摸屏和平(ping)板顯(xian)示(shi)器(qi)

• OLED和LED

• 智能玻璃

• 石墨烯層

• 光伏晶圓和電池

• 半導體晶片

• 金屬化層和晶圓(yuan)金屬化

• 電池電極
  

• 導(dao)電(dian)涂布(bu)紙和導(dao)電(dian)紡織品(pin)

單(dan)點(dian)金(jin)屬 膜厚測量(liang)儀(yi)EddyCus TF lab 2020MT

單點金(jin)(jin)(jin)屬 膜厚(hou)測量(liang)(liang)儀EddyCus TF lab 2020MT可(ke)以(yi)(yi)對透明(ming)(ming)和非(fei)透明(ming)(ming)層(ceng)(ceng)(ceng)的(de)(de)非(fei)接觸金(jin)(jin)(jin)屬厚(hou)度(du)(du)(du)進行(xing)測量(liang)(liang)。測量(liang)(liang)是通過非(fei)接觸式渦流傳(chuan)感器實現的(de)(de)。它(ta)可(ke)以(yi)(yi)實時地對已知或確切的(de)(de)常(chang)數電導率的(de)(de)材(cai)料(liao)的(de)(de)進行(xing)厚(hou)度(du)(du)(du)測量(liang)(liang)。這種(zhong)非(fei)接觸測試(shi)技(ji)術能(neng)夠在較寬的(de)(de)厚(hou)度(du)(du)(du)范圍內進行(xing)精確測量(liang)(liang)，從幾納米(mi)厚(hou)度(du)(du)(du)開(kai)始，一直到厚(hou)金(jin)(jin)(jin)屬板的(de)(de)表征。電渦流技(ji)術還能(neng)夠對被有(you)害材(cai)料(liao)覆蓋(gai)的(de)(de)金(jin)(jin)(jin)屬層(ceng)(ceng)(ceng)進行(xing)表征。單點金(jin)(jin)(jin)屬膜厚(hou)測量(liang)(liang)儀也(ye)可(ke)以(yi)(yi)為非(fei)常(chang)薄(bo)的(de)(de)膜層(ceng)(ceng)(ceng)以(yi)(yi)及非(fei)常(chang)厚(hou)的(de)(de)金(jin)(jin)(jin)屬和普通合金(jin)(jin)(jin)提供(gong)特定的(de)(de)材(cai)料(liao)設(she)置。該測量(liang)(liang)方法具有(you)ji強的(de)(de)魯(lu)棒(bang)性和高(gao)重(zhong)復性和高(gao)精度(du)(du)(du)。此外(wai)，它(ta)不需(xu)要任何光學(xue)透明(ming)(ming)度(du)(du)(du)，也(ye)不用(yong)物(wu)理接觸。

軟件和設備控制：

• 非常用戶友好的軟件

• 直觀的觸摸顯示導航

• 實時(shi)測量板材(cai)電阻和層厚

• 軟件輔(fu)助手動映射選(xuan)項

• 各種數據(ju)保存和(he)導出選項

  
  

非接觸式 金(jin)屬膜厚測量(liang)儀規格參(can)數：

非接觸式 金屬膜(mo)厚成像測量(liang)儀EddyCus TF map 2530MT

非(fei)接(jie)(jie)觸式 金(jin)(jin)屬(shu)(shu)膜(mo)(mo)厚成像(xiang)測(ce)量(liang)(liang)儀EddyCus TF map 2530MT是一種非(fei)接(jie)(jie)觸式厚度(du)成像(xiang)系(xi)統(tong)。這款金(jin)(jin)屬(shu)(shu)膜(mo)(mo)厚成像(xiang)設備利用(yong)(yong)非(fei)接(jie)(jie)觸式渦流(liu)傳(chuan)感器來(lai)確定任何(he)已知電(dian)(dian)導(dao)率或(huo)特(te)征電(dian)(dian)導(dao)率剖面，如金(jin)(jin)屬(shu)(shu)或(huo)合金(jin)(jin)材料的(de)(de)厚度(du)。這種非(fei)接(jie)(jie)觸式測(ce)試(shi)技術可以(yi)在較(jiao)寬(kuan)的(de)(de)厚度(du)范圍內(nei)進行精確測(ce)量(liang)(liang)，厚度(du)范圍從幾納米到毫米。此外，它(ta)還可以(yi)應(ying)用(yong)(yong)于非(fei)導(dao)電(dian)(dian)材料封裝的(de)(de)薄膜(mo)(mo)。該測(ce)量(liang)(liang)方法具有良好的(de)(de)魯棒性(xing)和較(jiao)高(gao)的(de)(de)重復性(xing)和精度(du)。它(ta)不受光(guang)學特(te)性(xing)的(de)(de)影響，有利于各種生產(chan)非(fei)透明金(jin)(jin)屬(shu)(shu)薄膜(mo)(mo)的(de)(de)行業。這種緊湊(cou)的(de)(de)臺式系(xi)統(tong)用(yong)(yong)于制造研發和測(ce)試(shi)實(shi)驗室的(de)(de)快速測(ce)試(shi)或(huo)系(xi)統(tong)質(zhi)量(liang)(liang)保證的(de)(de)廣泛應(ying)用(yong)(yong)。

軟件和設備控制：

• 非常用戶友好的軟件

• 實時映射測量

• 易于使用的統計(ji)分析選項

• 預定義的測量和產品配方(尺(chi)寸、音高(gao)、閾值)

• 直線掃(sao)描，直方(fang)圖(tu)和區域分析

• 黑色和彩色圖像編碼

• Csv & PDF導出

• PC匯總導出

• 用(yong)于參(can)數轉換的材(cai)料(liao)數據庫

• 邊緣效應的補償

• 數據的存儲和導入

• 導出數據集(如eddyva, MS Excel, Origin)

非接觸式 金屬膜厚測(ce)量(liang)儀規格(ge)參數：

手持式金屬(shu) 膜厚測量儀EddyCus TF portable1010

手持(chi)式(shi)金屬(shu) 膜厚測(ce)量(liang)(liang)儀EddyCus TF portable1010一種方便和便攜(xie)的(de)測(ce)量(liang)(liang)設(she)備，用(yong)于(yu)生(sheng)產或現場(chang)的(de)大(da)型(xing)玻璃和金屬(shu)箔的(de)快速接觸測(ce)量(liang)(liang)，例如(ru)在制造后(hou)的(de)快速質量(liang)(liang)檢查(cha)或作(zuo)為來料良(liang)好的(de)檢查(cha)。手持(chi)設(she)備允許測(ce)量(liang)(liang)甚至隱藏和封裝(zhuang)層。這是(shi)一個(ge)易于(yu)使用(yong)的(de)設(she)備，通過(guo)觸摸顯(xian)示(shi)器控制。

• 手工質量控制，進料檢驗(yan)，出料檢驗(yan)

• 導電材料的接觸表征

• 單(dan)點接觸(chu)測量(要求恒距離(li)測量)

• 150 x 150毫(hao)米(mi)的(de)平面表(biao)面(50 x 50毫(hao)米(mi)和(he)100 x 100毫(hao)米(mi)可選)

  
  

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