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PID控制器PLL鎖相環 | Moku:Pro |
Moku:Pro_PID控制器PLL鎖相環
Moku:Pro_PID控制器PLL鎖相環
Moku:PID控(kong)制(zhi)(zhi)器(qi)(qi)(qi)的(de)PID控(kong)制(zhi)(zhi)器(qi)(qi)(qi)具有四(si)個*可配置的(de)PID控(kong)制(zhi)(zhi)器(qi)(qi)(qi),具有亞微秒(miao)的(de)延遲。這使得它們能夠(gou)用(yong)(yong)于要求低(di)和高(gao)反饋帶寬(kuan)的(de)應用(yong)(yong),如激(ji)光溫度(du)和電流穩定(ding)。通過使積分和微分控(kong)制(zhi)(zhi)器(qi)(qi)(qi)具有獨立的(de)增益設置,PID控(kong)制(zhi)(zhi)器(qi)(qi)(qi)也可以用(yong)(yong)作超前滯后補償器(qi)(qi)(qi)。
Moku:Pro是(shi)一(yi)(yi)個(ge)基于芯片的(de)儀(yi)器(qi)測試系(xi)統(tong),能夠在(zai)(zai)FPGA硬件平臺(tai)上運行多個(ge)儀(yi)器(qi)。現(xian)在(zai)(zai),使用(yong)Multi-instrument Mode,傳統(tong)上需要由(you)獨(du)立(li)(li)硬件盒或(huo)(huo)模(mo)塊(kuai)組成的(de)整個(ge)FPGA測試設備系(xi)統(tong),現(xian)在(zai)(zai)可(ke)(ke)(ke)以在(zai)(zai)一(yi)(yi)個(ge)Moku:Pro上實(shi)現(xian)。利用(yong)FPGA的(de)動態(tai)重配置,用(yong)戶(hu)可(ke)(ke)(ke)以獨(du)立(li)(li)地熱插拔(ba)儀(yi)表(biao),而(er)(er)不影響系(xi)統(tong)中(zhong)的(de)其他儀(yi)表(biao)。此(ci)外,儀(yi)器(qi)之間可(ke)(ke)(ke)以相(xiang)互連接,信號(hao)在(zai)(zai)FPGA內*通過(guo)數字域傳遞。這可(ke)(ke)(ke)以實(shi)現(xian)高數據傳輸速率和超低(di)延遲,而(er)(er)且不會出現(xian)信噪比(bi)下降。而(er)(er)通常由(you)獨(du)立(li)(li)硬件模(mo)塊(kuai)或(huo)(huo)儀(yi)器(qi)之間的(de)模(mo)數或(huo)(huo)數模(mo)轉(zhuan)換往往會導致信噪比(bi)下降。多儀(yi)器(qi)模(mo)式極大(da)地擴展(zhan)了Moku:Pro的(de)通用(yong)性,體現(xian)了loC功(gong)能的(de)潛力。
Moku:Pro_PID控(kong)制器特征參(can)數:
4個輸入(ru)通道,4個輸出通道,4個獨立的(de)PID控(kong)制器(qi),帶控(kong)制矩(ju)陣用于(yu)MIMO
使用(yong)交互式波德圖(tu)實時設計您的(de)控制系統的(de)頻率響(xiang)應
信號(hao)處理(li)鏈中內(nei)置探針點的數字信號(hao)處理(li)的框圖視圖
多(duo)段PID生(sheng)成器與(yu)單或雙積(ji)分(fen)器和(he)微分(fen)器與(yu)低和(he)高頻增(zeng)益飽和(he)
集(ji)成探測點的信號監測
輸入參數相(xiang)關規格(ge):
控制器 :通用參數
增益特性(xing)