| 品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 電子 | 多波長動態干涉儀 | 納米級相位分辨率 |
Kaleo MultiWAVE多波長動態干涉儀
【KALEO MultiWAVE 簡介】
Phasics在光學計量領域持續創新，推出能夠兼顧測量透射波前誤差和反射波前誤差（TWE / RWE）的革命性新產品：Kaleo MultiWAVE動態干涉儀。 直徑高至5.1英寸（130毫米）的鍍膜和未鍍膜的光學器件可在其工作波長下直接進行測量。 Kaleo MultiWAVE是購買多臺干涉儀或特殊波長干涉儀的有效替代方案，擁有*性價比。 該系統同時可提供媲美Fizeau干涉儀測量精度，及動態干涉儀的抗震性能。
【關于Phasics】
Phasics是一家專注于高分辨率波前傳感技術的法國公司。Phasics公司憑借其在測量方面的專業經驗與*的波前測量技術為客戶提供全面的高性能波前傳感器。
一、 Kaleo MultiWAVE多波長動態干涉儀主要特點
紫外、可見光(guang)、近紅外、短波(bo)紅外、中遠(yuan)紅外等任(ren)意多波(bo)長定制
單臺干涉儀可(ke)集(ji)成(cheng)多個(ge)工作(zuo)波長
納米級相位分辨率
超高動態范圍(wei) (>500 條紋數(shu))
二、KALEO MultiWAVE 應(ying)用(yong)
光學(xue)(xue)元(yuan)件及光學(xue)(xue)系統計量
三、KALEO MultiWAVE 測量案例(li)
四、KALEO MultiWAVE 指標參(can)數(1)
| RMS重復性 (2) | < 0.7 nm (< λ / 900) |
| 測量精度 | 80 nm PV (3) |
| 動態范圍（離焦值） | 500 fringes (SFE = 150 μm) |
| 可測反射率范圍 | 4% - 100% |
(1) 四英寸口徑，使用625 nm光源
(2) 在(zai)4英寸參(can)考鏡上執行36次(ci)連續測量(liang)，每一次(ci)測量(liang)使用均(jun)化值為16次(ci)。 參(can)考定義(yi)為所(suo)有(you)奇數測量(liang)的(de)(de)平(ping)均(jun)值。 RMS重(zhong)復(fu)性定義(yi)為RMS平(ping)均(jun)差(cha)值，加上偶數測量(liang)值與參(can)考之間差(cha)值的(de)(de)標準偏差(cha)的(de)(de)2倍。
(3) 1 µm PV 離(li)焦像(xiang)差(cha)下(xia)
上海市徐匯區虹梅路2007號6號樓3樓
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