| 品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 生物產業,電子 | 極限空間分辨率 | <1um |
高分辨率測試靶
 | 負(fu)片圖案設計 基底為10x10mm2，設計緊湊(cou)，尺寸穩定性良好 采用高精度電(dian)子束光刻技術制作 結(jie)構尺(chi)寸(cun)低至(zhi)100nm 分(fen)辨(bian)率可達到3300 lp/mm |
昊量光電推出(chu)的(de)(de)(de) Test chart 標準尺系列是由高精度(du)(du)的(de)(de)(de)電子束光刻(ke)制作(zuo)而(er)成，這些(xie)圖案(an)(an)蝕刻(ke)在具有(you)廣(guang)譜透射(DUV-VIS-NIR)的(de)(de)(de)，基底為(wei)一個10×10 mm2石(shi)英(ying)襯底上(shang)。在襯底上(shang)施加了高光密度(du)(du)的(de)(de)(de)鉻(ge)層，之(zhi)后通過燒蝕鉻(ge)層，使(shi)得結(jie)(jie)構(gou)(gou)尺寸可(ke)以降低(di)到100納米的(de)(de)(de)同(tong)時保(bao)證了設(she)計的(de)(de)(de)精度(du)(du)，這種方式也保(bao)證了結(jie)(jie)構(gou)(gou)邊緣(yuan)的(de)(de)(de)良好尺寸公差和(he)直(zhi)線度(du)(du)。其結(jie)(jie)構(gou)(gou)為(wei)負片圖案(an)(an)，且每(mei)個靶(ba)上(shang)的(de)(de)(de)負片圖案(an)(an)允許結(jie)(jie)構(gou)(gou)透明，而(er)背景(jing)被鉻(ge)層阻(zu)擋(dang)。同(tong)時為(wei)配各(ge)類顯微(wei)鏡(jing)物鏡(jing)使(shi)用，有(you)多種圖案(an)(an)可(ke)以選(xuan)擇，且所有(you)圖案(an)(an)都可(ke)以有(you)一個厚度(du)(du)0.17毫米的(de)(de)(de)覆蓋玻(bo)璃的(de)(de)(de)版本可(ke)用。 |
高分辨率顯微鏡標準測試片標準載玻(bo)片靶(ba) TC-RT01——7.5-3300 lp/mm+4.0-0.25um Pinholes |
通過高分辨率(lv)(lv)的RT01，可(ke)以非常輕松、快(kuai)速地在(zai)傳輸(shu)光下(xia)確定目標的分辨率(lv)(lv)限制。水平和垂直對齊(qi)共有(you) 59 條(tiao)(tiao)線型，涵蓋了精(jing)度從(cong)每毫米(mi) 7.5條(tiao)(tiao)線對 到 3300 條(tiao)(tiao)線對。 同(tong)時結構(gou)的(de)(de)(de)簡單排(pai)列和測試(shi)結構(gou)尺(chi)寸的(de)(de)(de)直接(jie)讀(du)取確(que)保了直觀的(de)(de)(de)處理。此外，還有5個直徑在4.0-0.25 um之(zhi)間(jian)的(de)(de)(de)針(zhen)孔，可(ke)以實現微成像光學元件的(de)(de)(de)詳(xiang)細(xi)表征(zheng) |  |
| 西門子星狀靶 TC-RT02 —— Resolution testchart with very high precision |
 | 該標(biao)(biao)準尺(chi)由 5 顆西門(men)子星(xing)組(zu)成， 其(qi)特點(dian)是星(xing)中心的錐(zhui)形部分制造的寬度低至為 150nm。該測試目標(biao)(biao)板非常(chang)適(shi)合于確定(ding)具有(you)非常(chang)高數值光圈的顯微鏡(jing)物(wu)鏡(jing)的分辨率(lv) |
| 載玻(bo)片檢查(cha)板TC-CB50 —— CheckBoard of 50 x 50 um2 squares |
高(gao)分辨率顯微鏡(jing)檢查板的特點內部每個正(zheng)方形均(jun)為 50 x 50 平(ping)方微米(mi)(mi)，整體尺寸(cun)為 9.0 x 9.0 平(ping)方毫米(mi)(mi)。該靶片非(fei)常適(shi)合于測試(shi)圖像(xiang)偏(pian)斜和(he)(he)曲率，以(yi)及(ji)確定由于直線和(he)(he)銳邊(bian)導致的圖像(xiang)質量。 |  |
| 載玻片針孔靶TC-ST01 —— Stepped rows of Pinholes from 0.18μm-4μm |
 |
該標(biao)準尺上提供了直徑0.18um到(dao)4um的(de)針孔。相同階梯(ti)式針孔間具有足夠的(de)暗(an)區，使(shi)待測透鏡的(de)整個(ge)視場變(bian)暗(an)。該標(biao)準尺特別適用(yong)于顯(xian)微鏡透鏡的(de)星形測試和(he)光(guang)學(xue)顯(xian)影 |
| 高分辨率(lv)顯微鏡(jing)靶(ba)通用規格 |
Pattern Tolerance: | 100nm/cm |
光密度 OD: | OD>8 @ 400nm, 6 @ 550nm, 4.5 @ 750nm, 3.6 @ 1000nm |
光(guang)譜范(fan)圍: | 200 - 2000nm |
基(ji)底: | Fused Silica w/Chrome deposit |
尺寸 (mm): | 10 x 10 x 1 |
構(gou)造 : | Stainless Steel, 75 x 25 x 1.5mm, microscope slide format |
上海市徐匯區虹梅路2007號6號樓3樓
info@auniontech.com
