| 品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 環保,電子 | 波長范圍 | 390～700 nm |
高效率熒光壽命成像系統
高效率熒光壽命成像系統或FLIM是基于熒光樣品中不同區域的熒光的指數衰減速率的差異。 由τ決定熒光壽命成像的每個像素的強度，這使研究 人員可以查看具有不同熒光衰減率的材料之間的對比度，還可以產生顯示其他衰減路徑變化的圖像。 可以通過使用脈沖源在時域中確定熒光壽命。 當熒光物質被超短脈沖激發時，時間分辨的熒光將呈指數衰減。 時間相關單光子計數（tcspc）通常被用作熒光壽命的測量方法，因為它補償了在源強度和單光子的脈沖幅度的變化。 更具體地說，TCSPC由單個光子雪崩光電二極管 （SPAD）記錄相對于激發激光脈沖的單個光子的壽命。 重復記錄多個激光脈沖，并在記錄了足夠多的事件后，研究人員能夠建立所有這些記錄的時間點上事件數量的直方圖。 然后，可以將該直方圖擬合到的指數壽命衰減函數的指數函數，并且可以相應地提取壽命參數。 Xper-FLIM配備了單光子雪崩二極管檢測系統，可以提供低成本檢測通道選項，從而為FLIM研究人員實現超 快速分析。 Xper-FLIM也可用于倒置顯微鏡或正置顯微鏡，滿足其他應用需求。
應用領域：
熒光壽(shou)命(ming)成像的原理：
測試案(an)例：
規格參數：
顯微鏡 | - -反射LED照明器，用于明場 - -帶有右手控制的機械X-Y載物(wu)臺 - -自(zi)動控制的(de)Z軸(zhou)位置 - -包括主(zhu)機架，平(ping)臺(tai)板，控(kong)制箱，接口電纜，電源線 - -40倍物(wu)鏡(jing)（其(qi)他(ta)選項：10倍，20倍，50倍和(he)100倍） - -正置或倒置顯微(wei)鏡 |
| 掃描模塊 | - -波長范圍：400～1000 nm - -激光(guang)掃(sao)描模式：壓電掃(sao)描 - -掃描范圍：200μm×200μm（使用40倍物(wu)鏡(jing)時） - -包括(kuo)用于光學圖像采集(ji)的15 MP攝像頭（使用40X時，FOV：220μm×150μm） - -包(bao)含一個控制(zhi)器(qi)（USB1.1） - -掃描速度(du)：> 100行/秒 |
| 光源 | 皮秒脈沖二極管激光器和驅動器 -波長：390～700 nm -自由空間/光纖耦合選擇（可選） |
| 濾波片 | 選擇與激光(guang)波長(chang)相對應的濾光(guang)片(pian) - -波長(chang)范圍：390～700 nm - -可在濾光(guang)鏡盒中(zhong)互換用于(yu)相應(ying)的激光(guang)器 |
| 機身 | - -1個插槽，用于(yu)連接激光中性密度（ND）濾(lv)鏡或偏振鏡 - -2個用于連接偏振片(pian)或波片(pian)的插槽 - -1個插(cha)槽，用于連接可互換(huan)的(de)濾(lv)波片套件(jian) - -具有三(san)個(ge)激(ji)光器(qi)空位(wei)。 - -可安裝光纖耦合端口。 - -提供穩定(ding)的光(guang)束對準(zhun)平(ping)臺 |
| 探測器 | 光子檢(jian)測效率 - 24 % at 400 nm - 49 % at 550 nm - 37 % at 650 nm - 有效區域直徑：50μm - 暗計數：<250，<100，<50，<25 cps（取(qu) 決(jue)于(yu)探測器的(de)等級） -NIM定時輸出：50 ps - 脈沖后可能(neng)性：<3％ |
| 光源驅動 | -重復(fu)頻率：31.25 kHz～80 MHz -觸發：-1至+1 V電平（可調） -頻率范圍：10 Hz～80 MHz -同步輸(shu)出：幅度<0.8 mV到50歐姆(mu) |
| 計數器 | 計時電路 - -檢測通道：1或2 - -時間范圍：25 ps - -觸發：0～-1200 mV - -計數率(lv)：40 MHz - -標記：TTL x4 |
| 軟件 | - -熒光壽命采集和(he)成像 - -頻譜(pu)數據導(dao)出格(ge)式：.txt，.csv - -2D映射數據導出格(ge)式：.spm，.csv |
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