品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 進口 |
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應用領域 | 醫療衛生,生物產業,電子,電氣 | 優點 | 可進行無損探測、靈敏度高、在不好的環境下原位測量等 |
高分辨率(lv)磁光克爾顯微鏡
當(dang)一(yi)束線偏振光照被磁性介質反射后,反射光的偏振面相(xiang)對于入射光的偏振面有(you)一(yi)個小的角度偏轉(zhuan)(克(ke)爾旋轉(zhuan)角),這一(yi)現象被稱為磁光克(ke)爾效應(ying)(ying)。該效應(ying)(ying)與(yu)顯(xian)微成(cheng)像技術結合組成(cheng)磁光克(ke)爾顯(xian)微鏡,被廣泛(fan)應(ying)(ying)用于磁性材料磁性測量,磁疇(chou)觀(guan)察等。 高分辨率磁光克爾顯微鏡可(ke)進行無損探測、靈敏度高、在不好的環境下原位(wei)測量(liang)等(deng)優(you)點是被越(yue)(yue)來(lai)越(yue)(yue)多(duo)的科研(yan)人員(yuan)采用。
為(wei)滿足日益增長的(de)市場需求昊量光(guang)電推出了高性價比的(de)磁(ci)光(guang)克爾顯微(wei)鏡。其主要(yao)原理是:一束面(mian)光(guang)源經過(guo)起(qi)偏(pian)器(qi),轉變為(wei)線偏(pian)振光(guang),照(zhao)射到樣(yang)品(pin)(pin)上,由(you)于樣(yang)品(pin)(pin)內(nei)磁(ci)疇(chou)的(de)存在使樣(yang)品(pin)(pin)各個(ge)區域內(nei)磁(ci)化(hua)強(qiang)度(du)和方向(xiang)不(bu)同,因(yin)(yin)此(ci)不(bu)同區域對線偏(pian)振光(guang),偏(pian)振面(mian)的(de)改變各不(bu)相同。因(yin)(yin)此(ci)當(dang)反射光(guang)通過(guo)檢(jian)偏(pian)器(qi)后光(guang)斑的(de)強(qiang)度(du)分布不(bu)同,從而(er)得到樣(yang)品(pin)(pin)的(de)磁(ci)疇(chou)結構。
為了獲得更(geng)高的靈敏度,優異的磁疇成像效果等該系(xi)統(tong)做了以(yi)下優化。
1)采用高亮度窄(zhai)帶LED光(guang)源(yuan)。
盡管理論上磁光克爾效應的對比度可以無限高,但是多個波長偏振像差的組合通常會大大降低偏振的純度。因此傳統的克爾顯微鏡經常報道磁光克爾對比度幾乎觀察不到。一個主要的原因就是因為使用寬譜的照明光源。因為磁光效應引起(qi)的(de)克爾旋(xuan)轉量(liang)與光源波長數量(liang)成反比(bi),寬(kuan)譜(pu)光源會產(chan)生相同寬(kuan)譜(pu)的(de)線偏振(zhen),也(ye)就是說,光偏振(zhen)不(bu)是好的(de)線性,觀察到的(de)磁對比度也會降低(di)。
因此為了(le)克服由于光源(yuan)帶(dai)來(lai)的相差,我們(men)經過(guo)多組測試,選(xuan)取了(le)FWHM為50nm的超亮(liang)LED光源,可獲得很(hen)強(qiang)的對比度,并(bing)且擁有較高(gao)的使用壽命。
2)圖像自動校正功能
通常(chang)為了獲得較弱磁性材料(liao)的對(dui)比度,市面(mian)上磁疇觀察(cha)設備通常(chang)會采用(yong)圖像差分處(chu)理來(lai)獲得較高對(dui)比度,即使(shi)用(yong)拍(pai)攝到(dao)的圖像減去背底圖片(pian)。該方(fang)法通常(chang)可以將信號增強10倍以上。但是由于在施加磁場的過程(cheng)中(zhong)樣品(pin)的位置會發生偏移(yi),會大(da)大(da)影響差分(fen)處理效果,甚至出現錯(cuo)誤。為了消除樣品(pin)的移(yi)動,設(she)備會通過快速像素相(xiang)位算法確定樣品(pin)漂移(yi),然后通過壓電(dian)促動器(qi)實時(shi)(shi)校(xiao)正(zheng)(zheng)位置。同(tong)時(shi)(shi)該(gai)幀(zhen)位移(yi)的圖像在軟(ruan)件中(zhong)也會實時(shi)(shi)修正(zheng)(zheng),校(xiao)正(zheng)(zheng)后的圖像位移(yi)量不大(da)于0.2個像素(8nm)
3)特(te)殊設計的電(dian)磁鐵
通(tong)(tong)常磁(ci)(ci)疇觀察顯微(wei)鏡(jing)中(zhong)的(de)(de)(de)電磁(ci)(ci)鐵(tie)(tie)設計是一(yi)(yi)個(ge)具有挑戰性的(de)(de)(de)話題,必須(xu)要有一(yi)(yi)些取舍(she)。為(wei)了(le)獲得(de)較(jiao)高的(de)(de)(de)分辨率,因此要使用大(da)倍率的(de)(de)(de)物(wu)鏡(jing),放置在靠(kao)近樣(yang)品的(de)(de)(de)位置。這對(dui)電磁(ci)(ci)鐵(tie)(tie)強(qiang)(qiang)加(jia)以一(yi)(yi)個(ge)空間限制(zhi),并限制(zhi)了(le)生產(chan)磁(ci)(ci)場(chang)的(de)(de)(de)強(qiang)(qiang)度(du)。其次(ci),磁(ci)(ci)鐵(tie)(tie)產(chan)生的(de)(de)(de)磁(ci)(ci)通(tong)(tong)量會通(tong)(tong)過(guo)物(wu)鏡(jing),引起法(fa)拉第效應,從而降低成像對(dui)比度(du)。
我們通過(guo)革(ge)新的(de)(de)(de)磁通量(liang)閉合式(shi)設(she)計(ji)從而巧妙(miao)的(de)(de)(de)解決了這兩個問題(ti)。通過(guo)對(dui)電磁鐵的(de)(de)(de)磁場測量(liang),我們可以(yi)發現,磁鐵的(de)(de)(de)磁場提高了4倍,但是通過物鏡的磁場強度卻(que)降低了8倍。產(chan)生磁場(chang)的均勻性在4mm范圍內也(ye)達到了0.5%的水平。
4)高靈(ling)敏度,高分辨(bian)率成像相(xiang)機
對于磁光(guang)克爾顯微鏡,樣品反射的(de)光(guang)通過檢偏器,僅(jin)僅(jin)只有百(bai)分之一的(de)入射光(guang)達到相(xiang)機(ji)傳感器。因此對于磁疇成像系統,相(xiang)機(ji)的(de)靈敏(min)度就(jiu)體現(xian)的(de)尤為(wei)(wei)重要。因此為(wei)(wei)了(le)達到成像效(xiao)果,我們(men)選取了(le)再該波(bo)段下(xia)量(liang)子效(xiao)率(lv)高達78%,并且具有20兆像(xiang)素的背(bei)照式相機。從而獲得高分辨(bian)率(lv),高信(xin)噪比(bi)的圖(tu)像(xiang)。
此(ci)外(wai)該設(she)備(bei)不(bu)但可(ke)以(yi)獲(huo)得樣品磁疇圖片,還可(ke)以(yi)根(gen)據樣品磁疇圖像同(tong)時獲(huo)得樣品的磁滯回線分析。
高(gao)分辨(bian)率磁光克爾顯微鏡產品(pin)參數:
Light source | 2200 Lumens ultrabright LED lamp |
Camera | 6.4 Megapixel @ 60FPS >78% Quantum efficiency |
Resolution | 300nm |
Magnetic Field | 1T(Perpendicular)/0.5T(Longitudina) |
Power Requirement | 230VAC ± 10%, 13Amp Single Phase |
Size / Weight | Main System: 60 x 50 x 1500px, 25kg Power Supply Tower: 60 x 60 x 750px, 10kg |
實例:
1)1nm CoFeB磁(ci)性(xing)薄膜
2)4種灰(hui)度:垂直磁(ci)化磁(ci)隧道(dao)結多(duo)級(ji)磁(ci)疇(chou)(4 shades of grey: Multilevel stripe domains on a perpendicularly magnetized magnetic tunnel junction stack)
3)[Pt/Co/Fe/Ir]x2 堆棧(zhan)手性磁疇(Chiral stripes (and skyrmions)on a [Pt/Co/Fe/Ir]x2 stack)
4)Heusler 合金薄膜中的垂直(zhi)磁化的磁疇反轉(Domain reversal in a perpendicularly magnetized Heusler alloy thin film)
5)同時施加磁場和電流
6)電(dian)流誘(you)導的(de)磁疇遠動(dong)的準實時觀測
7)CoFeB多層材料退磁過程的實(shi)時(shi)觀測