超(chao)高速熒光成(cheng)像(xiang)系統（面掃描，低損傷）

技術服務人員(yuan)：李(li)工(William)

IMA™是一種超高速且一體化的可定制高光譜顯微鏡平臺，具有高空間分辨率和光譜分辨率。*集成的系統可快速映射VIS-NIR-SWIR光譜范圍內的漫反射，透射率，光致發光，電致發光和熒光。基于高通量全局成像濾波器，IMA™比基于掃描類型光譜儀的高光譜系統更快，更高效。

IMA™可實現(xian)復雜的(de)材料分(fen)析，如太(tai)陽能電池和鈣鈦礦的(de)表征(zheng)，成(cheng)分(fen)，應力(li)，材料缺陷(xian)等的(de)映射，光譜信息的(de)監測，單個(ge)發(fa)射器(qi)強度的(de)變化，波長漂移(yi)或光譜帶寬變化。

 Photon Etc.的(de)(de)IMA™可在400至1700 nm范圍內(nei)成像，帶寬(kuan)為3 nm，能夠測量(liang)光(guang)電(dian)(dian)特性，如電(dian)(dian)壓開路和外量(liang)子效率，并(bing)可對材(cai)料中的(de)(de)缺陷進行準確的(de)(de)檢測和表(biao)征，這非常(chang)適于半(ban)導體器件（GaAs，SiC，CdTe，CIS，CIGS等(deng)）的(de)(de)質(zhi)量(liang)控制。

超高速熒光成像系統（面掃描，低損傷）IMA™覆蓋(gai)的光(guang)譜范圍(wei)非常(chang)適用于在第二個(ge)生(sheng)物(wu)(wu)窗口中激發(fa)的熒光(guang)的空(kong)間和光(guang)譜識(shi)別和測(ce)量。通過可能(neng)集成(cheng)暗視野照明(ming)模(mo)塊，它(ta)成(cheng)為檢測(ce)嵌入在細(xi)胞中的納米材料的成(cheng)分和位置(zhi)或活體，體外和未染(ran)色生(sheng)物(wu)(wu)樣品的復雜分析的特殊工(gong)具;有機和無(wu)機物(wu)(wu)質的特性(xing)。例(li)如，單(dan)壁(bi)納米管（SWNT）發(fa)射帶(dai)窄（~20nm），每個(ge)帶(dai)對(dui)應于*的物(wu)(wu)種（手性(xing)）。使(shi)用IMA™，可以在表面或活細(xi)胞中以單(dan)一(yi)SWNT空(kong)間分辨率分離這(zhe)些物(wu)(wu)種。生(sheng)物(wu)(wu)學家(jia)會(hui)喜歡使(shi)用它(ta)做無(wu)損分析，因為其較弱的組織吸收，更高(gao)的穿透深度和有限的自發(fa)熒光(guang)等特性(xing)。

應用案例(li)：

1、      多路復用(yong)-碳納(na)米(mi)管的空間位置和光譜(pu)的識別

在玻璃表面上(shang)SCD懸(xuan)浮HiPco碳納米管的(de)偽彩熒光成像(xiang)。每一種顏(yan)色（17種(zhong)）對應(ying)一(yi)個(ge)光譜(pu)，如下圖所(suo)示(shi)：

2、      不均勻性和缺陷成像-鈣鈦(tai)礦(kuang)器件的Absolute luminescence成像

頂部圖像(xiang)(xiang)表示使(shi)用C60作為(wei)ETL的(de)(de)(de)鈣(gai)鈦礦電(dian)(dian)池的(de)(de)(de)源(yuan)自EL的(de)(de)(de)準費米能級分裂(lie)的(de)(de)(de)Absolute 成像(xiang)(xiang)。下圖是電(dian)(dian)流轉(zhuan)換效率的(de)(de)(de)fT的(de)(de)(de)成像(xiang)(xiang)。

3、降解和樣品形成-鈣(gai)鈦礦晶體(ti)的光(guang)致發光(guang)成(cheng)像

黑白圖：770nm波(bo)長(chang)激發(fa)的(de)PL成像

彩色圖：PL中心波長(chang)的偽(wei)彩圖。

底部圖(tu)：從高光譜(pu)數據中(zhong)提(ti)取的兩個PL光譜(pu)-見圖(tu)片中(zhong)相(xiang)應位置

4、細胞標記-金納米粒子暗場成像

A）用金納米(mi)顆(ke)粒（60nm大(da)小）標記的人乳腺癌細胞(bao)的暗(an)視野圖像，

B）在550nm處的(de)(de)單色(se)(se)圖像。 在PCA后標記(ji)為綠色(se)(se)的(de)(de)GNP

C）乳腺細胞的放大

D）在(zai)(zai)(zai)不(bu)同區域(yu)GNPs的光譜(pu)，在(zai)(zai)(zai)550nm處的峰(feng)確認(ren)為(wei)單個60nmNPs的峰(feng)，沒有強(qiang)的紅移(yi)峰(feng)證明沒有聚合(he)的NPs，高光譜(pu)相機沒有在(zai)(zai)(zai)細胞之間的區域(yu)中檢測到任何(he)GNPs。

產品(pin)特點

l   快速(su)全視野成像

l   高空間分辨率和光譜分辨率

l   可定制

l   無損分析

l   光譜分(fen)為(wei)可從(cong)400-1700nm

主要應用

l  進行復(fu)雜的材料分析，如太陽(yang)能電池表征和半導體質量控制(zhi)（例如：鈣(gai)鈦礦，GaAs，SiC，CIS，CIGS等）。

l  研究復(fu)雜環境中的(de)(de)IR標記，包括活細胞(bao)和組織。 例如(ru)，在第二生物窗口中發射的(de)(de)IR熒光團的(de)(de)光譜異質(zhi)性。

l  檢索暗(an)場圖像并獲得透明和未染色樣(yang)品（如聚合物，晶(jing)體或活細胞）的對比(bi)度。

主要參(can)數：