高分辨率波前分析儀/波前傳感器/波前相差儀

400X300高分(fen)辨率、500um高動態范圍、高性價比、同(tong)時檢測波前與M^2波(bo)前傳感器(qi)！

關鍵詞：波前傳感器、波前分析儀、波前像差儀、傳感器、波前測試儀、波前探測器、激光波前分析儀、哈特曼波前分析儀、虹(hong)膜定位(wei)、哈(ha)特曼波(bo)前傳感器、波(bo)前象差(cha)、高分辨率(lv)波(bo)前分析儀(yi)(yi)、波(bo)前測量(liang)儀(yi)(yi)、激光光束及波(bo)前分析儀(yi)(yi)、夏克 哈特曼(man)、鏡頭MTF

公司自主研發的波前傳感器是基于四波橫向剪切干涉技術。SID4系列波前分析儀相較傳統的夏克-哈特曼波前探測器具有高分辨率、消色差、高靈敏度、高動態檢測范圍、操作簡便等*的優勢。為波前像差、波前畸變的檢測以及激光光束及波前的測量、分析，眼科虹膜定位波前像差引導等提供了全新的解決方案！波前探測(ce)器配套的軟件界(jie)面(mian)友好，可直(zhi)觀的輸(shu)出高(gao)分辨率相位(wei)圖(tu)(tu)和(he)光(guang)束(shu)強(qiang)度分布圖(tu)(tu)。 

高分辨率波前分析儀/波前傳感器/波前相差儀

波前傳(chuan)感器生產(chan)廠(chang)家具有(you)雄厚的技術研(yan)發實力，能為客(ke)戶(hu)提(ti)供的各種自適(shi)應光學系統OA-SYS(Adaptive Optics Loops)，制(zhi)定個性(xing)化解決方案。可(ke)根據客戶的應(ying)用需求，為(wei)客戶推薦zui合適的SID4波前傳感器、可變形鏡或空間光調制器、自適應光學系統操作軟件等。

圖(tu)1 波前校正前與(yu)校正后對比

波前探測器依據其四波橫向剪切干涉技術，對哈特曼掩模技術進行了大的升級、改進。波前傳感器將400X300的超高分辨率(lv)和(he)500um的超大動態范圍*結(jie)合在了(le)一起。可以(yi)滿足不同的客戶的應用需求，可對(dui)激光(guang)光(guang)束進行光(guang)強、位相、PSF（點擴散函數(shu)）、MTF（調制傳(chuan)遞函(han)數）、OTF（光學傳遞函數）、波前像差、M^2等(deng)進行實時、簡便(bian)、快(kuai)速(su)的測量。

*部   產品介紹

SID4 UV-HR高分辨紫外波前傳感(gan)器

公司將(jiang) SID4的波(bo)前(qian)測(ce)量波(bo)長(chang)范圍擴(kuo)展到190nm-400nm。SID4 UV-HR是一款(kuan)適用于紫外波(bo)段(duan)的高分(fen)辨率(lv)波(bo)前(qian)傳感器(qi),非常適用于光學元件測量（例如印刷、半導(dao)(dao)體(ti)等等）和表面(mian)檢測（半導(dao)(dao)體(ti)晶片(pian)檢測等）。

特點(dian)：

u  高(gao)分辨率（250x250）

u  通光孔徑大（8.0mmx8.0mm）

u  覆蓋紫外光譜

u  靈敏(min)度高(gao)（0.5um）

u  優化信噪比

圖(tu)2 SID4-UV波前(qian)分析(xi)儀

SID4 波(bo)前傳感(gan)器

可用于400nm-1000nm 的激(ji)光(guang)的波前(qian)(qian)位相、強度分布，波前(qian)(qian)像差(cha)，激(ji)光(guang)的M2，澤尼克參數(shu)等進(jin)行實時的測量(liang)及參數(shu)輸出。

特點：

Ø  波長(chang)范圍：400-1100nm

Ø  分(fen)辨率高（160x120）

Ø  消色差

Ø  測量穩(wen)定性(xing)高

Ø  對震動不敏感

Ø  操作(zuo)簡單

Ø  結構緊湊(cou)，體積小

Ø  可用筆記本電(dian)腦(nao)控制(zhi)

圖(tu)3 SID4位(wei)相檢測

可用于檢測各種透鏡，光學系統的檢測，可以對透鏡、光學系統的進行實時的PSF（點擴散(san)函數）、MTF（調制傳(chuan)遞(di)函(han)數(shu)）、OTF（光學傳遞函數）、波前像差測量及參數輸出。相對于傳統的透鏡檢測設備像：傳函儀、干涉儀，具有操作簡便，測量精度高，參數輸出方便等優點，正在被越來越多的客戶推崇。

特(te)點：

u  波(bo)長范圍(wei)：400-1100nm

u  高性能的相機，信噪比高

u  實時測量，立即給出(chu)整(zheng)個物(wu)體表面的信息（120000個測量(liang)點）

u  曝光(guang)時(shi)間(jian)極短,保證(zheng)動態物體(ti)測量(liang)

u  操作簡單(dan)

圖4 SID4-HR

圖5 SID4-HR傳遞函數檢(jian)測

SID4 NIR 波(bo)前分析(xi)儀(yi)

主要針對(dui)1550 nm（1.5um-1.6um）激(ji)光的檢測，具有(you)分辨率(lv)高(gao)高靈敏度、高動態范圍、操作簡便等*的優勢。可用于光學測量，SID4 NIR是測(ce)量(liang)紅(hong)外(wai)物(wu)體和(he)紅(hong)外(wai)透鏡像差、PSF、MTF和焦距及表面質量(liang)的理(li)想工(gong)具。

特點：

²  高分辨(bian)率（160x120） 

²  快(kuai)速測量 

²  性(xing)價(jia)比(bi)高

²  測(ce)量

²  對振動不敏感(gan)

圖6 SID4 NIR激光波前檢測

SID4 DWIR 波(bo)前(qian)儀

具有寬波段測量的特點。可以實時(shi)的檢測3-5um和8-14um的(de)(de)波前位相(xiang)，強度分布等響應的(de)(de)波前信(xin)息。可以很(hen)好(hao)的(de)(de)滿足紅外波段(duan)客(ke)戶的(de)(de)波前檢測需(xu)求(qiu)。

特點：

u  光學(xue)測量(liang)：SID4 DWIR是測量紅(hong)外物體特性(xing)（熱成(cheng)像(xiang)和安全視覺）或紅(hong)外透鏡(jing)（CO2激光器）的理想(xiang)工具，輸出結果包括MTF，PSF，像差，表面質(zhi)量和透鏡焦距。

u  光(guang)束(shu)測量：（CO2激光器(qi)，紅外OPO激光光源(yuan)等(deng)(deng)等(deng)(deng)）SID4 DWIR提供詳(xiang)盡的光束(shu)特性參(can)數(shu)：像(xiang)差，M2，光強分(fen)布，光束特性等

u  高分辨率（96x72）

u  可實現測量(liang)

u  可覆蓋中紅(hong)外(wai)(wai)和遠紅(hong)外(wai)(wai)波(bo)段 大數值孔徑測量，無需(xu)額(e)外(wai)(wai)中轉透鏡

u  快速測量 對振動不(bu)敏感

u  可實現(xian)離(li)軸測量

u  性價比高

圖7SID4 DWIR

SID4產品型號參數匯總

第二部       控制軟(ruan)件(jian)

SID4波前分(fen)析儀控制軟件

SID4波前分析儀控(kong)制軟件(jian)與SID4 波前(qian)傳感器(qi)配(pei)套提供(gong)的是一款完整的分(fen)析(xi)軟件(jian)，其集(ji)成了高分(fen)辨率的相位圖(tu)與強(qiang)度(du)分(fen)布(bu)圖(tu)，測量(liang)光強(qiang)分(fen)布(bu)和波前(qian)信息(xi)。

借助(zhu)Labview和C++ 可編程模(mo)塊數據(ju)庫（軟件二次(ci)開發工具(ju)包），客戶能夠根據(ju)自身的需要編寫各種相位測量與(yu)編譯模(mo)塊。

Adaptive Optics Loops將SID4 Wavefront Sensor結合您的(de)(de)(de)應用(yong)，選(xuan)配合適(shi)的(de)(de)(de)可變形鏡或相位調制器(qi)，提供整(zheng)套的(de)(de)(de)自(zi)適(shi)應光學系統(tong)。減小任何一個光學系統(tong)的(de)(de)(de)相差從來(lai)都不是簡(jian)單的(de)(de)(de)，我們的(de)(de)(de)產品能為激(ji)光光束和成(cheng)像系統(tong)帶來(lai)更可靠，高精度的(de)(de)(de)解決方案。

圖8 SID4控(kong)制界面

SID4光學測量軟件Kaleo

基于剪(jian)切干涉(she)的波前傳感器與專門設計(ji)的光學測量軟件Kaleo結合(he)，可以測量球面鏡(jing)和(he)非球面鏡(jing)的像(xiang)差(cha)及MTF等信息。只需要幾秒(miao)鐘，我們的(de)儀器為您(nin)呈現絕大部分的(de)光學(xue)參數(shu)，如焦距，光腰，MTF，像差，Zernike系(xi)數，曲率半徑，PSF等。

第三部       與傳(chuan)統(tong)哈特曼波前(qian)分(fen)析(xi)儀比較

與(yu)傳(chuan)統(tong)哈特曼波前(qian)傳(chuan)感器測(ce)量結果對比：

技術(shu)參數對比：

第四部  應用(yong)領域

Ø 激光(guang)、天文(wen)、顯微、眼科(ke)等復(fu)雜自(zi)適(shi)應光學系統波前像差檢(jian)測

Ø 激光(guang)光(guang)束性能、波前像差、M^2、強度等的(de)檢測

Ø  紅外(wai)、近紅外(wai)探(tan)測

Ø 平行光管/望遠鏡(jing)系統的檢測與裝(zhuang)調

Ø 衛星遙感(gan)成像(xiang)(xiang)、生物成像(xiang)(xiang)、熱(re)成像(xiang)(xiang)領域

Ø  球面、非球面光學元器(qi)件檢(jian)測 (平面, 球面, 透(tou)鏡(jing))

Ø  虹膜定位像差(cha)引導

Ø 大(da)口徑高精度光(guang)學元器(qi)件檢測

Ø  激光(guang)通信(xin)領域

Ø  航(hang)空航(hang)天領域