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變溫/高低溫探針臺
變溫微探針臺是(shi)在不(bu)同(tong)溫(wen)度下為半導(dao)體材料提供測量的設備。該平臺使(shi)用焦耳(er)-湯姆遜可以為(wei)樣品70-730K廣泛的變溫(wen)(wen)范(fan)圍，利用溫(wen)(wen)度(du)控制器使展現的溫(wen)(wen)度(du)穩定性(xing)和(he)重(zhong)復性(xing)，控溫(wen)(wen)精度(du)可(ke)達(da)到±0.1K，分辨率(lv)可達到0.01K，并對溫度(du)變化有極快的(de)響應速度(du)。該設備可靈活(huo)選擇微探針的數量，zui多可提供7個(ge)探(tan)針(zhen)，每個(ge)探(tan)針(zhen)可完成三維空間的運動，X/Y/Z行程分別(bie)為25 mm x 25 mm x 6 mm精(jing)度可達到(dao)50微米。真(zhen)空探針臺
變溫/高低溫探針臺
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變溫(wen)微探針臺（高低溫(wen)探針臺）是在(zai)不(bu)同(tong)溫(wen)度下（70K-730K）為半導體材料（例如砷(shen)化鎵(jia)、非晶(jing)硅、碲鎘汞等）提供(gong)測量的設(she)備。該平臺可提供(gong)精確(que)的溫度控制和無(wu)振動無(wu)噪聲(sheng)的工作(zuo)環(huan)境。該設(she)備可提供(gong)1到7個不同的探針(zhen)數量，每個探針(zhen)可在(zai)X,Y,Z三個坐標(biao)軸(zhou)上(shang)獨立的運動(dong)。可以定位在10´12mm的(de)樣品上(shang)的(de)任(ren)何位置，精度(du)可達到50mm提(ti)供(gong)可(ke)以(yi)執行各種測量和實(shi)驗的平(ping)臺，例(li)如電(dian)特(te)性和深層瞬態光譜(pu)。
該系統(tong)使用焦(jiao)耳-湯姆遜溫度平(ping)臺(tai)提供(gong)不同的溫度，可提供(gong)室溫 (300K) 、70K 到580K、300K 到730K幾種不同的溫(wen)控范圍。使用AUK2000溫(wen)度控制器可(ke)(ke)提供的溫度穩定性和重復性，控溫精度可(ke)(ke)達到±0.1K，分辨率可達(da)到0.01K，并對溫度變(bian)化有(you)極快的響應速度。
變(bian)溫微探(tan)針臺系統(tong)可以有(you)多個選項自頂向(xiang)下(xia)光學元件、渦輪泵、傳輸窗口(kou)、光纖探(tan)針操縱器(qi)、精(jing)密儀器(qi)防震臺等。為(wei)實(shi)驗室提供廣泛的實(shi)驗能力和機會。
u 主(zhu)要特(te)點
- 模塊設(she)計（可以根據(ju)自(zi)己的實驗要求和經費配置）
- 體積緊湊
- 優異的溫度(du)穩定(ding)性和重現性
- 廣范圍的操作溫度 70K-730K
- 使用焦(jiao)耳湯姆遜平臺，無(wu)液體冷凍劑
- 低(di)功耗
u 主(zhu)要(yao)應用(yong)
光(guang)學(xue)實驗、深層瞬態光(guang)譜研(yan)究、微操作、電器測(ce)(ce)量(liang)、光(guang)纖光(guang)學(xue)探頭照(zhao)明和光(guang)學(xue)研(yan)究、材料研(yan)究、IC測(ce)(ce)試、紅外探測(ce)(ce)器測(ce)(ce)試、微機電系(xi)統等。
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