產地類別 | 進口 |
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簡要描(miao)述:Hinds Instruments 公司(si)的(de)偏振顯(xian)微(wei)/雙折射(she)顯(xian)微(wei)成(cheng)像(xiang)(xiang)系統(tong) 可(ke)以精確測量(liang)多個波長(chang)下生(sheng)物(wu)樣本/材料雙折射(she)分(fen)布(bu)(bu),并配合CCD多個像(xiang)(xiang)素元形成(cheng)詳細(xi)細(xi)致(zhi)分(fen)布(bu)(bu)。結合不(bu)同組織的(de)雙折射(she)偏振特性(xing),可(ke)以用(yong)來(lai)分(fen)析檢測生(sheng)物(wu)樣品/材料特定(ding)
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