好消息!法國(guo)Phasics公司高精度紅外/近紅外波前傳感器取(qu)得出(chu)口豁免,無需(xu)出(chu)口許可!
法國Phasics成立(li)于2003年,提供zui先jin的(de)光學計量和成像解(jie)決(jue)方案。PHASICS公司波前傳感器采用其獲得zuan利(li)的(de)四波橫向剪切干(gan)涉測量術(QWLSI)。這項技術克服Shack-Hartmann傳感器的(de)局(ju)限性,從(cong)而(er)可以獲得超(chao)高(gao)分辨率、高(gao)靈敏度(亞納(na)米)和寬(kuan)動(dong)態(tai)范圍(wei)。
近期法國PHASICS公司從法國商務部獲悉,公司提交申請的高精度紅外(3-5um &8-14um)/近(jin)紅外(900-1700nm)波前傳感器出口(kou)豁免申請(qing)已獲得(de)通(tong)過。這就意味著客戶采購SID4-DWIR紅外(3-5um &8-14um)和SID4-SWIR近紅外(900-1700nm)波前傳(chuan)感器時無需(xu)再提供最終用戶備案(an)。
下面我(wo)們將(jiang)為大家詳細的介紹(shao)下這幾款波前分析儀:
1. SID4-SWIR近紅外(900-1700nm)波(bo)前(qian)傳(chuan)感器
圖1 SID4-SWIR波前(qian)分(fen)析儀
SID4-SWIR近紅外(wai)(900-1700nm)波前傳感器產品特點:
高相(xiang)位(wei)分辨率(lv):160x128 or 80x64
高重復度:<2nm RMS
高測(ce)量精(jing)度:15nm RMS
工作(zuo)波段(duan):900-1700nm
高靈敏度(du):可適(shi)用于低功(gong)率紅外光源測試(shi)
瞬(shun)時相(xiang)位測量,對振動不敏感
可接受(shou)非準直光入射,光路搭建簡(jian)易(yi)快(kuai)捷
2. SID4-DWIR紅外(3-5um & 8-14um)波前分析儀(yi)
圖2 SID4-DWIR波(bo)前分析儀
SID4-DWIR紅外(3-5um & 8-14um)波(bo)前分析儀產(chan)品(pin)特點:
寬工作(zuo)波段:3-5um & 8-14um
高相位分辨率:160x120
高重復度:25nm RMS
高測量精度:75nm RMS
對振動不敏感(gan)
可(ke)接受非準直光入射,光路搭建(jian)簡易快捷
3. 近紅外 or 紅外光學元器(qi)件面型(xing)、透射波前、MTF測試系統(tong)
圖3 Kaleo Kit紅外測試(shi)模組
近紅(hong)外 or 紅(hong)外光學元器件(jian)面(mian)型(xing)、透(tou)射波前、MTF測試系統產品特點:
多波長:266nm, 355nm, 405nm,550nm, 625nm, 780nm, 940nm, 1050 nm,1.55um, 2.0um, 3.39um, 10.6um
大口徑:Up to 5.1"(130mm)
高(gao)重復度精度:<0.7nm RMS
高測量精度(du):80nm PV
對震(zhen)動(dong)不(bu)敏感
測試案(an)例:
圖4 非球面(mian)測試(shi)結(jie)果(guo)
圖5 平面測試結果(guo)
圖6 鏡頭透射(she)波前(qian)測試(shi)結果(guo)
圖7 鏡頭MTF測試結果
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